Occasion HITACHI / OXFORD X-Supreme 8000 #293801436 à vendre en France
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ID: 293801436
Style Vintage: 2010-2018
Energy Dispersive X-Ray Fluorescence (EDXRF) system
Silicon Drift Detector (SDD)
HITACHI High-Tech X-ray Tube
Background filters
PC
2010-2018 vintage.
HITACHI/OXFORD X-Supreme 8000 est un équipement ultramoderne de radiographie qui offre une précision et une performance inégalées dans l'analyse des matériaux et l'identification élémentaire. Cet outil de pointe combine les capacités analytiques supérieures de la technologie de fluorescence aux rayons X (XRF) avec la qualité et la fiabilité reconnues des instruments OXFORD et HITACHI. Conçu pour un large éventail d'applications en recherche, développement, contrôle de la qualité et surveillance des processus, OXFORD X-Supreme 8000 fournit une analyse précise et rapide de différents types d'échantillons, des solides aux liquides et aux poudres. Au cœur de HITACHI X-Supreme 8000 se trouve son tube à rayons X haute performance, qui génère un puissant faisceau de rayons X pour l'excitation du matériau de l'échantillon. Ce tube à rayons X est couplé à un système de détection sophistiqué qui capture les rayons X fluorescents émis par l'échantillon en réponse à l'excitation. L'unité utilise des algorithmes avancés de traitement du signal pour identifier et quantifier avec précision les éléments présents dans l'échantillon, avec une sensibilité et une résolution exceptionnelles. X-Supreme 8000 est équipé d'une machine polyvalente de manutention d'échantillons qui permet une analyse facile et efficace d'une large gamme de tailles et de formes d'échantillons. L'instrument dispose d'un étage d'échantillonnage motorisé qui peut être positionné avec précision pour une analyse optimale, assurant des résultats reproductibles sur plusieurs mesures. HITACHI/OXFORD X-Supreme 8000 offre également des options pour le chargement et la manutention automatisés des échantillons, améliorant ainsi l'efficacité et la productivité du processus d'analyse. L'un des points forts d'OXFORD X-Supreme 8000 est ses capacités analytiques globales. L'outil peut détecter et quantifier des éléments couvrant un large éventail de numéros atomiques, des éléments légers comme le carbone et l'oxygène aux métaux lourds comme l'uranium et le plomb. Cette large couverture élémentaire rend HITACHI X-Supreme 8000 adapté à une gamme variée d'applications, y compris la surveillance environnementale, l'analyse pharmaceutique, l'identification des alliages et la recherche en géologie. X-Supreme 8000 dispose d'une interface utilisateur intuitive qui permet un fonctionnement et un contrôle faciles de l'instrument. L'actif est équipé d'un logiciel puissant pour l'acquisition, le traitement et l'analyse de données, permettant aux utilisateurs de générer rapidement des compositions élémentaires précises et détaillées de leurs échantillons. Le logiciel offre également des fonctionnalités avancées pour l'étalonnage, le développement de méthodes et de rapports, fournissant une solution complète pour l'analyse et la caractérisation des matériaux. En plus de ses capacités d'analyse, HITACHI/OXFORD X-Supreme 8000 est conçu pour la fiabilité et la durabilité dans des environnements de laboratoire exigeants. L'instrument est construit avec des composants de haute qualité et une construction robuste, assurant la stabilité et la performance à long terme. L'engagement de HITACHI/OXFORD et d'OXFORD pour le service et le soutien renforce encore la valeur d'OXFORD X-Supreme 8000, avec une formation complète, la maintenance et l'assistance technique à la disposition des utilisateurs. En conclusion, HITACHI X-Supreme 8000 est un modèle de radiographie de pointe qui offre une précision, une polyvalence et des performances inégalées dans l'analyse des matériaux. Avec sa technologie de pointe, ses capacités analytiques complètes et sa conception conviviale, le X-Supreme 8000 est un outil précieux pour les chercheurs, les scientifiques et les ingénieurs d'un large éventail d'industries.
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