Occasion JEOL JSX-3202EV #293665452 à vendre en France

JEOL JSX-3202EV est un équipement ultramoderne de radiographie de JEOL ; l'un des principaux fabricants dans l'industrie des rayons X. Il s'agit d'un système de diffraction des rayons X dispersif à haute résolution (EDXRD) conçu pour l'analyse élémentaire non destructive. Cette unité fonctionne avec une anode au xénon 500W plus une phase de balayage circulaire de 180 mm ultra-rapide et de grande puissance pour fournir une vitesse et une précision inégalées. Il utilise une armoire de microscopie équipée d'un générateur de rayons X, d'un détecteur de rayons X InSb à 6 faces et d'un manipulateur d'échantillons pour le déplacement de l'échantillon. JSX-3202EV permet une analyse rapide des échantillons de matériaux provenant de différentes parties d'un objet dans les directions horizontale et verticale. La machine offre un large éventail de taux de collecte de données, allant de 0,1 à 1000 ms. Avec son étage d'échantillonnage intégré, l'outil est en mesure de faire tourner automatiquement l'échantillon pendant la collecte de données pour assurer une couverture complète. La taille et la divergence du faisceau peuvent facilement être ajustées à l'échantillon et à la zone de fonctionnement souhaitée. Ces ajustements sont effectués à l'aide de l'étage d'échantillonnage intégré et de curseurs de focalisation et de divergence télécommandés. La taille du faisceau peut être réglée avec précision à 500 nm avec d'autres réglages de 150 nm à 10 µm. L'actif offre également un large éventail de modes d'analyse, y compris les cartes élémentaires, la sensibilité des zones et la microanalyse. JEOL JSX-3202EV utilise le traitement rapide du signal pour améliorer la précision et la précision des données collectées. Le modèle est également équipé d'une fente X de 0,15 mm et d'une optique sans pente assurant une collecte de données précise. En plus d'EDXRD, l'équipement fournit également l'imagerie aux rayons X, y compris la topographie aux rayons X, l'imagerie électronique rétrodiffusée et la réflectivité aux rayons X. Dans l'ensemble, JSX-3202EV est l'un des systèmes de rayons X les plus puissants disponibles sur le marché. Son acquisition rapide d'échantillons, ses techniques d'analyse avancées et ses nombreux réglages en font un excellent choix pour toute tâche d'analyse élémentaire.