Occasion KLA / TENCOR NANOMAPPER #9205607 à vendre en France

KLA/TENCOR NANOMAPPER est un appareil d'inspection aux rayons X de pointe conçu pour analyser les caractéristiques submicroniques dans le matériau diélectrique d'un échantillon. Ce système utilise des optiques à rayons X innovantes et des algorithmes propriétaires de traitement d'image pour créer une analyse de défaut haute résolution et rentable pour des matériaux complexes et difficiles. KLA NANOMAPPER est conçu pour générer des images haute résolution des structures contenues dans des matériaux de moins de 1 micron. En utilisant des optiques à rayons X et des algorithmes propriétaires de traitement d'image, cette unité permet l'analyse automatisée des défauts et le dimensionnement des défauts à l'échelle micro et nano des matériaux non conducteurs. La machine se compose de deux parties distinctes : l'imagerie optique et le traitement d'image. Le spectateur utilise un laser à impulsions ultra-courtes spécial pour acquérir des images haute résolution des structures dans le matériau diélectrique. L'impulsion laser est ajustée aux caractéristiques du matériau de l'échantillon, ce qui permet une résolution d'imagerie et un temps d'exposition optimisés. La partie traitement d'image de l'outil utilise des algorithmes propriétaires pour détecter et quantifier les défauts ou défauts matériels détectés par l'actif d'imagerie. Ces algorithmes appliquent des techniques sophistiquées de détection de bord, de taille des particules et d'identification des matériaux pour identifier et mettre en évidence les défauts dans la gamme spectrale du modèle d'imagerie par rayons X. Au-delà de l'identification correcte des défauts, les algorithmes peuvent également mesurer la taille, la forme et la gravité du défaut qui se produit. Cela permet aux utilisateurs d'identifier rapidement les problèmes dans les diélectriques qui ne peuvent pas être repérés à l'œil nu. TENCOR NANOMAPPER est une solution idéale pour ceux qui recherchent une analyse précise et répétable des défauts dans un matériau non conducteur de moins de 1 micron. En combinant l'imagerie laser unique et les techniques de détection de bord exclusives, l'équipement fournit une fenêtre haute résolution dans le monde microscopique qui peut être facilement analysé et quantifié. Le système est également facile à utiliser, nécessitant un minimum de configuration et de connaissances de l'opérateur pour effectuer des analyses multiples dans un court laps de temps. Avec un accent sur la précision et la vitesse, NANOMAPPER fournit des capacités d'inspection de pointe de l'industrie pour une variété d'applications.