Occasion MALVERN / PANALYTICAL Empyrean #293736922 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 293736922
Style Vintage: 2016
X-Ray Diffraction (XRD)
P/N / Description
9430 098 74993 / Workstation PC With Windows 7 Ultimate 64 Bit
9430 500 74151 / Widescreen monitor, 23"
9200 412 74191 / EATON DX10000 UPS 10 kVA
9200 412 75581 / Cooler 1.5HP, Chiller with 13.2 L/MIN Displacement pump, polyscience chiller unit
9430 860 94011 / ANTON PAAR HTK 1200N Rigid with auto height compensation high temperature chamber
9430 500 20731 / 0.8mm Deep sample holder for high temperature chamber
9430 500 21491 / EDWARDS Vacuum pump with its controller, conections
- / XE Proportional detector, with second detector
- / Second beam path prefix holder second holder for the second detector
2016 vintage.
MALVERN/PANALYTICAL Empyrean est un appareil de radiographie de pointe qui établit la norme en matière d'analyse de diffraction des rayons X (XRD). Il est conçu pour la haute performance et la polyvalence, ce qui le rend idéal pour un large éventail d'applications en recherche, développement et contrôle de la qualité dans diverses industries telles que les produits pharmaceutiques, la science des matériaux, la géologie, et plus encore. Au cœur de MALVERN Empyrean se trouve sa technologie avancée de tubes à rayons X, qui offre une intensité et une stabilité exceptionnelles, permettant des mesures précises et fiables. Le système est capable à la fois de criblage à haut débit et d'analyse approfondie des échantillons, offrant une flexibilité pour différentes exigences d'analyse. Une des caractéristiques clés de PANALYTICAL Empyrean est sa capacité à effectuer une large gamme de techniques de diffraction des rayons X, y compris la diffraction des poudres, l'analyse des couches minces et l'analyse des contraintes résiduelles. Sa polyvalence permet aux utilisateurs d'étudier la structure cristalline, la composition de phase et la texture de divers matériaux avec une grande précision et sensibilité. L'unité est équipée d'un goniomètre de pointe qui permet un positionnement et un alignement flexibles des échantillons, permettant des mesures selon différents angles et orientations. Cela garantit que les utilisateurs peuvent obtenir des informations complètes sur les propriétés cristallographiques de l'échantillon avec précision. En outre, Empyrean dispose d'une machine de détection avancée qui fournit une résolution et une sensibilité exceptionnelles. Le détecteur est capable de capturer des diagrammes de diffraction avec un rapport signal/bruit élevé, permettant de détecter des pics même mineurs et des signaux de faible intensité. Cela garantit que les utilisateurs peuvent obtenir des données exactes et fiables pour leur analyse XRD. En plus de ses capacités matérielles, MALVERN/PANALYTICAL Empyrean est soutenu par un logiciel d'analyse puissant qui permet aux utilisateurs de traiter et d'analyser efficacement les données XRD. Le logiciel offre une gamme d'outils pour indexer les motifs de diffraction, quantifier la composition de phase et effectuer des analyses cristallographiques. Il permet également une visualisation et une interprétation avancées des données, facilitant ainsi une compréhension complète des propriétés de l'échantillon. MALVERN Empyrean est conçu avec des fonctionnalités conviviales qui améliorent la facilité d'utilisation et la productivité. L'outil dispose d'une interface simplifiée qui simplifie le fonctionnement, le rendant accessible aux utilisateurs novices et expérimentés. De plus, l'actif est équipé de fonctions automatisées qui minimisent l'intervention manuelle et simplifient les processus d'acquisition de données. Dans l'ensemble, PANALYTICAL Empyrean est un modèle de rayons X puissant et polyvalent qui excelle dans l'analyse XRD. Avec sa technologie de pointe, ses capacités complètes et sa conception conviviale, l'équipement est un outil indispensable pour les chercheurs, les scientifiques et les professionnels de l'industrie qui cherchent à explorer les propriétés cristallographiques des matériaux avec précision et précision.
Il n'y a pas encore de critiques