Occasion MICRO PIONEER XRF-2000H #9217536 à vendre en France
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Vendu
ID: 9217536
Style Vintage: 2009
X-Ray fluorescence system (XRF)
Energy dispersive X-Ray spectroscopy (EDS)
Nondestructive testing (NDT)
Includes:
Computer
Operating system: Windows
Reference sample
Manual and cables
Trace element (ppm)
Elemental composition
Precious metal
Liquid / Powder / Film
Hazardous material detection
Coating / Plating thickness gauge
Single & multiple layer measurements (m)
Chamber dimensions: 26" x 24" x 24" / 610 W x 670 D x 600 mm H
Stage travel: 8" x 6" x 4" / 200 x 150 x 100 mm
Maximum sample dimensions: 21" x 21" x 6" / 550 x 550 x 100 mm
Power:
Input: NEMA 5-15 Phase, 110 V, 50 / 60 Hz, 200 W
Output: RS-232 Data & composite to USB video
2009 vintage.
L'équipement MICRO PIONEER XRF-2000H X-Ray est un spectromètre de fluorescence à rayons X (XRF) haute performance conçu spécifiquement pour l'analyse élémentaire de traces. Le système est conçu pour fournir une excellente résolution pour les concentrations élémentaires des matériaux analysés. L'unité de radiographie est capable de mesurer avec précision les concentrations de métaux lourds, de terres rares et de nombreux autres éléments. XRF-2000H possède un détecteur de fluorescence X dispersive d'énergie (EDXRF) qui est conçu pour détecter les différents éléments présents dans l'échantillon testé. Le détecteur EDXRF est composé d'un réseau de détecteurs de silicium à haute sensibilité qui peut détecter des concentrations élémentaires jusqu'à des parties par million (ppm) de niveaux. Le détecteur EDXRF a également un rapport signal sur bruit amélioré pour une sensibilité maximale ainsi qu'une résolution ultra-élevée pouvant atteindre 1,2 mm. MICRO PIONEER XRF-2000H possède également la technologie optique la plus récente qui comprend un agrandissement de 6,5 x et un zoom variable pour une précision maximale. La machine est capable de mesurer les rayons X de 1 à 70Kev, ce qui signifie qu'elle peut analyser efficacement les échantillons avec une forte variation de leur composition élémentaire. XRF-2000H dispose également d'un étalonnage automatique de l'énergie pour une analyse facile et fiable ainsi que d'une correction automatique du fond pour plus de précision. L'outil dispose d'un logiciel embarqué qui permet aux utilisateurs de personnaliser et de stocker facilement leurs propres paramètres d'analyse. De plus, le logiciel peut fournir des rapports d'analyse intégrés pour tous les matériaux testés. MICRO PIONEER XRF-2000H X-Ray actif est un spectromètre à fluorescence à rayons X haute performance conçu pour l'analyse élémentaire de traces d'une grande variété de métaux, de terres rares et d'autres éléments. Il est doté d'une excellente résolution et précision, d'un détecteur de fluorescence à rayons X dispersif et de la technologie optique la plus récente. Le modèle est également livré avec un étalonnage automatisé de l'énergie, une correction automatique du fond et un logiciel intégré pour une gestion facile des données. Avec ses performances et sa précision élevées, XRF-2000H est un choix idéal pour l'analyse élémentaire de traces dans les applications industrielles et de recherche.
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