Occasion OMEGA TXRF #293629156 à vendre en France

OMEGA TXRF
Fabricant
OMEGA
Modèle
TXRF
ID: 293629156
Style Vintage: 2004
X-Ray fluorescence spectrometer 2004 vintage.
OMEGA TXRF (Total Reflection X-ray Fluorescence) est un type de technique analytique qui utilise la réflexion externe totale d'un faisceau de rayons X afin d'obtenir des informations sur la composition élémentaire et/ou moléculaire d'une surface d'échantillon. Son principal avantage par rapport aux techniques classiques de fluorescence des rayons X est que la préparation de l'échantillon est beaucoup plus simple, car il n'est pas nécessaire de broyer l'échantillon. Au lieu de cela, un faisceau de rayons X est focalisé sur la surface de l'échantillon, qui est alors totalement réfléchie de la surface et traverse un détecteur situé le plus près possible de la surface de l'échantillon. En mesurant l'énergie des rayons X de réflexion totale et en appliquant la détection d'éléments lumineux, il est possible de reconstituer la concentration et les compositions élémentaires des matériaux à la surface de l'échantillon. TXRF a de nombreuses applications dans des domaines tels que l'archéométallurgie, l'analyse chimique et alimentaire, la métallographie industrielle, l'analyse environnementale et la recherche médicale. La technologie OMEGA TXRF se compose d'une source de rayons X et d'un détecteur de rayons X. La source de rayons X utilisée en TXRF est généralement soit un tube étanche, soit une anode tournante. Ils émettent des rayons X à différentes énergies, ce qui permet à l'utilisateur de sélectionner un élément spécifique ou un type de matériau à analyser. Le détecteur de rayons X traite les rayons X entrant dans la réflexion totale et produit un graphique appelé spectre d'énergie. Ce spectre d'énergie, ainsi que la composition élémentaire de l'échantillon, est utilisé pour interpréter l'information contenue dans le rayonnement de réflexion. Le niveau de sensibilité du système OMEGA TXRF est augmenté par un processus appelé soustraction de fond. Pour ce faire, on projette un échantillon de référence sur la surface de l'échantillon et on mesure le spectre énergétique des rayons X réfléchis qui traversent le matériau de référence. Ensuite, ces nombres de spectre d'énergie sont soustraits du spectre d'énergie de la surface de l'échantillon, ce qui conduit à une meilleure interprétation de la composition de surface. Ceci est utile pour identifier les oligo-éléments et les concentrations dans un échantillon. TXRF offre une aide environnementale en fournissant des résultats relativement rapides, une quantification exacte et la compatibilité avec de nombreux types d'échantillons. Il s'agit également d'un outil rapide et précis lorsqu'il est utilisé pour identifier des polluants ou des contaminants dans des échantillons de sol ou d'eau. Dans l'ensemble, OMEGA TXRF est une technique d'analyse puissante, rapide et précise qui sert à déterminer la composition élémentaire ou moléculaire d'une surface d'échantillon. Cette technique a un large éventail d'applications et est utilisée dans la recherche, l'industrie et l'analyse environnementale.
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