Occasion PANALYTICAL Epsilon 5 #9253839 à vendre en France

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Fabricant
PANALYTICAL
Modèle
Epsilon 5
ID: 9253839
Style Vintage: 2006
X-Ray Diffractometer (XRD) 2006 vintage.
PANALYTICAL Epsilon 5 est un équipement de pointe de spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDX), utilisé pour identifier les éléments et la composition dans les matériaux. Composé d'un générateur de rayons X, d'une chambre d'échantillonnage et d'un détecteur, le système fonctionne en excitant des électrons dans le matériau avec une source de rayons X. Au fur et à mesure que les électrons s'éloignent de leur emplacement, les électrons libèrent une signature spectrale unique sous forme de rayons X, que le détecteur peut alors mesurer et analyser. La sortie du détecteur est alors présentée dans un spectre, ce qui donne un aperçu détaillé de la chimie élémentaire de l'échantillon. Le détecteur utilisé dans l'unité de rayons X Epsilon 5 est un détecteur de dérive de silicium (SDD) pour des performances optimales. La puissance du générateur de rayons X est commutable, ce qui permet à l'utilisateur d'augmenter la précision de la machine en fonction du matériau de l'échantillon fait pour une sensibilité accrue pour de faibles concentrations d'éléments. Cet outil est polyvalent, permettant à l'utilisateur d'analyser l'analyse qualitative et quantitative de l'élément sur la surface de l'échantillon. Le Panlytical PANALYTICAL Epsilon 5 offre une pléthore de fonctionnalités pour permettre une mesure précise. Son modèle d'analyse de taches permet aux utilisateurs de mesurer une information détaillée de taches sélectionnées, tandis que son analyse en couches minces élimine l'épaisseur du matériau pendant la mesure. L'équipement dispose d'un logiciel puissant pour établir des corrélations significatives entre les données recueillies. Le logiciel comprend des algorithmes pour analyser les régions de k bords de l'élément, ainsi que des méthodes de montage efficaces pour détecter les valeurs de crête de l'élément. En outre, les données sorties sont prêtes à l'analyse avec les formats Exportables dans une variété de formats standard. Le système a également la capacité d'être intégré à d'autres outils et systèmes tels que LabView et Matlab. En conclusion, Epsilon 5 est une unité de radiographie polyvalente, de l'état de la technique, capable de fournir aux utilisateurs des informations précises et détaillées sur le contenu élémentaire à l'intérieur d'un matériau d'échantillon. Avec un détecteur de dérive de silicium, une analyse par points, une analyse par couches minces, un logiciel puissant et des capacités d'intégration, PANALYTICAL Epsilon 5 fournit aux utilisateurs la puissance et la précision nécessaires pour acquérir les données nécessaires pour comprendre les éléments sur n'importe quel échantillon matériel.
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