Occasion PANALYTICAL Epsilon 5 #9384266 à vendre en France

PANALYTICAL Epsilon 5 est un équipement ultramoderne de diffraction des rayons X conçu pour les marchés de la recherche, de l'industrie et de l'éducation. Il est largement utilisé dans les applications de la science des matériaux telles que la cristallographie, et il convient à de nombreuses applications telles que l'identification de phase ou l'analyse quantitative de phase des matériaux. Le système est équipé d'un tube à rayons X avancé, d'un détecteur PANALYTICAL PIXcel et du logiciel DiffuOS. Le tube à rayons X permet une intensité réglable de 0,1 à 100 kW, ce qui le rend adapté à une grande variété de mesures de diffraction des rayons X. Le détecteur PIXcel est un détecteur de position avancé, sensible à haute résolution, capable d'enregistrer la position angulaire d'un photon à rayons X le long de son angle de diffraction. Ce logiciel est l'unité de contrôle de la machine et permet à l'utilisateur de contrôler avec précision les paramètres de l'outil. Epsilon 5 permet une large gamme de mesures de rayons X à l'aide de son actif d'échantillonnage, qui est équipé d'un porte-échantillons échancré pour des échantillons jusqu'à 10 mm de diamètre. En outre, il peut être utilisé pour la diffraction de poudre, les mesures de courbe de basculement et les mesures de profil. Le modèle est équipé d'un équipement de collimateur interchangeable, qui permet une faible divergence et un flux élevé pour les petits échantillons. PANALYTICAL Epsilon 5 est capable de fournir des données de haute qualité pour la recherche et les applications industrielles, ce qui le rend adapté à de nombreuses applications, y compris l'identification de phase, les études de composition qualitative et la cristallographie aux rayons X. Le système a la capacité de caractériser les matériaux cristallins et amorphes, et il a la capacité de caractériser le collage de l'hydrogène, les états d'oxydation et les impuretés. L'unité est également équipée de capacités de collecte et d'analyse de données haut de gamme, ce qui la rend idéale pour la mesure et l'analyse avancées. Il propose une acquisition rapide de données, une analyse intuitive de données et des visualisations 3D avancées. En outre, l'utilisateur peut utiliser les outils d'analyse avancés tels que le raffinement de motifs entiers et le raffinement de Lebail. Dans l'ensemble, Epsilon 5 est un diffractomètre à rayons X avancé avec une large gamme d'applications. Il est équipé de tous les composants et capacités nécessaires pour des mesures de haute qualité des rayons X dans le cadre de la recherche et de l'industrie. Il est convivial et ses capacités avancées d'acquisition et d'analyse de données le rendent adapté à diverses applications.