Occasion PANALYTICAL PW 1480 #293631546 à vendre en France

PANALYTICAL PW 1480 est un appareil à rayons X conçu pour aider les chercheurs en sciences des matériaux. C'est un système polyvalent et performant utilisé pour caractériser les propriétés microstructurales et morphologiques des matériaux. L'unité est basée sur une méthode de diffraction des rayons X, intégrant une source de rayons X CuK α monochromatique et un goniomètre à deux axes de mouvement. La machine comprend une caméra CCD haute résolution pour capturer les données de diffraction. L'outil est capable d'effectuer l'analyse d'un large éventail de matériaux, y compris les métaux, les alliages, les plastiques, la céramique, les semi-conducteurs et d'autres matériaux. Il permet aux chercheurs de déterminer qualitativement et quantitativement les compositions de phases cristallographiques, ainsi que de mesurer d'autres propriétés de microstructure telles que la granulométrie et la texture. En outre, les capacités analytiques de l'actif peuvent être étendues en utilisant un certain nombre de cristaux spéciaux, comme une géométrie de Bragg-Brentano (BB) de type Lytle. Cela permet l'étude de divers effets, tels que microstrain, gradients de souche, défauts ponctuels et impuretés dans une variété de matériaux. Le modèle prend en charge un large éventail de techniques de préparation d'échantillons et la capacité de personnaliser la sélection des détecteurs et des ports pour répondre aux besoins de l'utilisateur. Il comporte un détecteur à l'état solide qui peut être utilisé pour détecter environ un million d'éléments, tandis que le détecteur à évaporation peut être utilisé pour mesurer des traces de constituants. L'équipement comprend également une suite logicielle qui permet l'analyse et l'interprétation des données recueillies lors des expériences. Cela inclut une variété d'algorithmes d'analyse, ainsi que des outils de visualisation qui permettent aux chercheurs de voir leurs résultats. Dans l'ensemble, PW 1480 est un système de radiographie avancé et très polyvalent qui permet aux chercheurs de caractériser les échantillons jusqu'au niveau microstructural. Il est capable d'analyser une variété de matériaux et de mesurer un large éventail de propriétés. En outre, les logiciels exclusifs et les cristaux spéciaux permettent aux utilisateurs d'étendre leurs études à des domaines tels que la microstrain, les gradients de souche, les défauts ponctuels et les impuretés.