Occasion PANALYTICAL XPert Pro #293601218 à vendre en France

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Fabricant
PANALYTICAL
Modèle
XPert Pro
ID: 293601218
X-Ray Diffractometer (XRD) X, Y Translation (Motorized): Range: 100 mm x 100 mm Minimum step size: 0.01 mm Slew speed: 15 mm/sec Z Translation (Motorized): Range: 12 mm Minimum step size: 1.0 micron.
PANALYTICAL XPert Pro est un appareil à rayons X polyvalent fabriqué par PANALYTICAL B.V. Le système est équipé d'un microscope électronique à balayage de haute précision (SEM), d'un spectromètre dispersif d'énergie (EDS) et d'un spectromètre dispersif de longueur d'onde (WDS) pour des investigations radiologiques optimales. PANALYTICAL X'PERT PRO utilise une chambre à vide haute performance et un générateur de rayons X basse tension avec une gamme d'énergie étendue. Cela permet aux chercheurs d'effectuer toute une gamme d'activités de recherche, telles que l'analyse de particules, l'analyse élémentaire, l'étude de corrosion, les mesures d'épaisseur de revêtement et les modifications de surface. X-PERT PRO est adapté à toute une gamme d'applications, y compris l'analyse des défaillances, la métallographie et la vérification des matériaux. L'unité peut être utilisée pour étudier les compositions d'alliage, les propriétés des matériaux et les zones de défauts. L'optique à rayons X intégrée permet d'étudier de grandes surfaces d'échantillons sous forme de radiographie ou de tomographie. Une caractéristique clé de X'PERT PRO est sa grande précision, obtenue grâce à ses outils d'analyse intégrée des particules. Les images numériques produites par SEM peuvent être traitées à l'aide de techniques interactives de segmentation et d'annotation pour évaluer avec précision la distribution de la taille, la forme, et même la structure d'une particule. De plus, la machine peut aider les chercheurs à déterminer la température de transition vitreuse des couches minces avec une précision nanométrique. PANALYTICAL X-PERT PRO est également livré avec une large gamme de logiciels avancés. PANALYTICAL AZtec Suite contient le puissant logiciel de cartographie des différences AZtec qui peut comparer les radiographies pour l'identification des différences entre les spécimens. Parmi les autres logiciels, citons les logiciels exclusifs PANALYTICAL EVA pour l'analyse de la composition qualitative et quantitative des éléments et des matériaux, et les logiciels MICROstructures pour l'analyse des microstructures. En termes de sécurité, XPert Pro est entièrement conforme aux règlements de sécurité, y compris le marquage CE. L'outil est livré avec une armoire robuste, permettant un fonctionnement sûr sans avoir besoin d'un blindage supplémentaire. Dans l'ensemble, PANALYTICAL XPert Pro est un atout avancé en rayons X avec diverses fonctionnalités et outils logiciels pour aider les chercheurs dans leurs recherches. Sa polyvalence et ses caractéristiques de sécurité en font un choix intéressant pour une utilisation dans des environnements industriels et de recherche.
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