Occasion PANALYTICAL XPert Pro #293645096 à vendre en France

PANALYTICAL XPert Pro est un équipement ultramoderne de radiographie offrant une technologie avancée de diffractomètre à rayons X pour une quantification élémentaire et une cartographie précises. PANALYTICAL X'PERT PRO combine un faisceau de rayons X précisément aligné, les composants optiques les plus fins, et la technologie moderne de détection et de traitement d'image. Cela garantit des performances radiologiques supérieures et des résultats fiables dans une variété d'applications d'analyse des matériaux, y compris la réflectométrie des rayons X, la diffraction des rayons X (XRD) et la fluorescence des rayons X (XRF). X-PERT traits AVANTAGEUX une source de Rayons X 10kV/20mA ferme et robuste, profitant d'un design de tube de Rayons X personnalisé et d'un système servo fiable, en fournissant le contrôle d'exposition et de positionnement exact des tubes de Rayons X. Afin d'améliorer encore l'utilisation du faisceau de rayons X, une application unique d'un miroir de balayage et d'exposition est utilisée pour déplacer le faisceau de la position centrale statique vers la zone d'analyse souhaitée. Cela permet de maximiser l'uniformité d'exposition, en particulier pour les applications de rayons X à haute énergie. L'approche avancée PANALYTICAL pour optimiser la cristallographie aux rayons X améliore encore les performances de l'unité. Cela inclut la mise en oeuvre de techniques de micro-ingénierie pour aligner précisément les composants optiques sur le tube à rayons X et le détecteur. Cela permet d'améliorer la résolution ainsi que l'intensité du signal et de réduire le bruit. PANALYTICAL X-PERT PRO intègre également un excellent détecteur à faible bruit pour la quantification élémentaire en temps réel, la cartographie et l'analyse XRD. Cela permet à la machine d'exceller dans les applications relatives à la mesure rapide des échantillons et aux enquêtes de plus longue durée. En outre, le détecteur XRF peut être équipé d'un spectromètre optique et d'une gamme d'accessoires permettant de mesurer des échantillons contenant toute la gamme d'éléments actuellement utilisés dans l'industrie. XPert Pro peut être interfacé avec une variété de solutions logicielles, y compris les suites XPert XRD et XRF propres à PANALYTICAL. Ce logiciel a également la capacité d'analyser les données en conjonction avec une série d'outils d'analyse de données. En outre, X'PERT PRO est également compatible avec d'autres logiciels d'analyse de données tiers tels que Origin, Topas ou Covel. Dans l'ensemble, PANALYTICAL XPert Pro X-ray est un excellent choix pour l'analyse d'échantillons contenant toute la gamme d'éléments. Il a des performances radiographiques supérieures et un excellent faible bruit, fournissant une quantification élémentaire et une cartographie précises. En outre, avec sa large gamme d'accessoires, de solutions logicielles et d'excellents résultats dans une variété d'applications industrielles, PANALYTICAL X'PERT PRO est un outil inestimable pour tout laboratoire d'analyse de matériaux.