Occasion PANALYTICAL XPert Pro #9108733 à vendre en France

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Fabricant
PANALYTICAL
Modèle
XPert Pro
ID: 9108733
Style Vintage: 2009
X-Ray Diffractometer Goniometer : PW3050/65 MRD cradle : PW3060/20 Incident beam path (1) X'Pert tube : PW3373/10 Cu LFF DK184330 (2) X-ray mirror : Inc. Beam Cu W/Si (hybird MRD) (3) Monochromator : Inc. Beam 2xGe220 Cu Asym. (hybird) Diffracted beam path (1) Monochromator : Diffr. Beam Triple axis, 3xGe220 Cu Sym. (2) Detector : PW3011/20 (Miniprop. large window) 2009 vintage.
PANALYTICAL XPert Pro est un puissant appareil de diffractomètre à rayons X (XRD) pour l'analyse de la diffraction des rayons X à haute résolution et à pleine portée. Il est capable de fournir la cristallographie haute résolution, l'identification de phase, le raffinement de la structure cristalline, et l'analyse quantitative du matériau cristallin. Le système est composé d'une source de rayons X filtrée, d'une chambre d'échantillonnage, d'un détecteur de rayons X et d'une unité associée de contrôle informatique et d'acquisition de données. PANALYTICAL X'PERT PRO machine est un outil clé en main, qui nécessite très peu d'interaction utilisateur et peut être actionné rapidement et commodément. Il est conçu pour être compact et léger, il est donc facile de se déplacer d'un instrument à l'autre et peut être conduit à l'évaluation sur place. Le centre de contrôle intégré PC de X-PERT PRO établit rapidement la communication avec le détecteur XRD et vous permet d'avoir un contrôle total sur les paramètres de l'actif. XPert Pro est équipé d'une source de rayons X haute résolution qui produit des impulsions de rayons X intenses qui sont filtrées afin de permettre des études de rayons X extrêmement sensibles. Les impulsions de rayons X filtrées sont ensuite envoyées dans la chambre d'échantillonnage qui retient l'échantillon à étudier. Les rayons X interagissent avec l'échantillon et diffractent, produisant un motif unique connu sous le nom de diffractogramme, qui est enregistré par le détecteur XRD. X'PERT PRO peut être utilisé pour analyser une large gamme de composés cristallins tels que les métaux, la céramique, les minéraux, les polymères et les semi-conducteurs. Il est équipé d'un logiciel avancé d'acquisition de données développé par PANALYTICAL qui propose divers outils de calcul et de quantification de données. Cela comprend la quantification de la taille des cristallites, la sélection des paramètres du réseau, la mesure des contraintes et l'identification des phases. Grâce au temps de traitement rapide des échantillons de PANALYTICAL X-PERT PRO, les résultats peuvent être obtenus en quelques minutes. PANALYTICAL XPert Pro est un outil essentiel pour une variété d'industries. Il aide à déterminer la taille des cristallites et la géométrie des réseaux, ainsi que l'identification des phases minérales. Il peut également être utilisé pour détecter des défauts internes tels que des fissures et la croissance cristalline. PANALYTICAL X'PERT PRO est un modèle XRD fiable et robuste conçu pour améliorer la qualité et la précision des résultats obtenus à partir de matériaux cristallins.
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