Occasion PANALYTICAL XPert Pro #9302605 à vendre en France

PANALYTICAL XPert Pro
Fabricant
PANALYTICAL
Modèle
XPert Pro
ID: 9302605
X-Ray Diffractometer (XRD) Missing backscatter detector.
PANALYTICAL XPert Pro est un appareil de radiographie de pointe spécialement conçu pour la caractérisation de matériaux allant des matériaux industriels et minéraux aux composés organiques et inorganiques. Le système est conçu pour assurer une analyse précise et répétable avec une excellente résolution et sensibilité pour une analyse élémentaire complète d'une grande variété d'échantillons. Il offre à la fois des capacités de fluorescence à rayons X dispersifs en longueur d'onde (WDXRF) et de fluorescence à rayons X dispersifs en énergie (EDXRF) grâce à une technologie de pointe et à une série de fonctionnalités logicielles automatisées qui facilitent l'acquisition et la gestion simplifiées des données. PANALYTICAL X'PERT PRO est équipé d'une optique à rayons X très avancée qui augmente sa précision et sa répétabilité à des niveaux sans précédent. Il se compose également d'un tube à rayons X de 40 kV et d'un détecteur à rayons X conçu pour capturer tout le spectre des rayons X, à partir duquel une analyse élémentaire qualitative et quantitative peut être effectuée. L'unité est construite avec un détecteur à l'état solide en option pour une sensibilité plus élevée dans une plage d'énergie plus faible et la détection simultanée d'éléments multiples. La machine fonctionne avec un large éventail de paramètres analytiques, y compris l'intensité, le taux de comptage, le temps d'exposition, l'angle de balayage et la composition. Il peut effectuer des analyses qualitatives et quantitatives avec des résolutions et des sensibilités variables. En outre, le logiciel intégré fournit une solution automatisée permettant l'acquisition de données simplifiées, l'analyse et la déclaration des résultats. X-PERT PRO offre également d'excellentes capacités de cartographie élémentaire avec l'outil de balayage optique à rayons X intégré dans sa conception. Cela permet de cartographier la distribution spatiale des éléments avec une résolution et une sensibilité différentielles. L'actif peut être utilisé pour l'analyse rapide des couches de surface et des échantillons en vrac, ainsi que le profilage de profondeur et l'analyse de placement, ce qui le rend idéal pour une variété d'applications industrielles. En conclusion, le modèle X'PERT PRO est un excellent choix pour l'analyse de matériaux allant des échantillons industriels aux échantillons géologiques et organiques. Avec ses systèmes avancés d'optique et de rayons X, associés aux fonctionnalités intuitives du logiciel et aux capacités de cartographie, il est sûr de fournir des résultats fiables et précis.
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