Occasion PHILIPS / PANALYTICAL Epsilon 5 #9229035 à vendre en France

PHILIPS/PANALYTICAL Epsilon 5 est un appareil à rayons X pour l'analyse diffractométrique. L'analyse diffractométrique permet d'étudier les propriétés des matériaux cristallins, telles que la structure cristalline, la composition de phase et les paramètres du réseau. Le système se compose d'une source spécialisée de rayons X, d'un monochromateur, d'un détecteur et d'un logiciel de pointe. La source de PHILIPS Epsilon 5 est un ensemble de sources de microspots réglables de 0,3 à 5.0kV (kilovolts) et limitant le courant de 0,8 à 10.0mA (milliampères). Cette source est couplée au monochromateur de l'unité qui filtre encore les rayons X. Le type et la gamme d'énergie du monochromateur peuvent être variés pour minimiser l'absorption et maximiser l'intensité. Le détecteur de la machine est un détecteur de plaques d'image à deux dimensions. Ceci a une surface active de 340 x 248 mm2 et peut être réglé à des énergies de 5-125kV. Le détecteur est connecté au logiciel One Count de l'outil, qui gère l'intégration complète et traite les comptages en spectres. Ce logiciel aide également à suivre, calibrer et analyser les données. PANALYTICAL Epsilon 5 offre une grande flexibilité pour une variété d'applications. Il peut être utilisé pour balayer les rayons X de poudre et la réflectivité, ainsi que des mesures à haute résolution. Cet actif peut également être utilisé pour évaluer des surfaces et des matériaux, établir des relations structure-propriété, mesurer des longueurs et des angles de liaison, et étudier des échantillons polycristallins ou texturés. Dans l'ensemble, Epsilon 5 est un puissant modèle de rayons X pour l'analyse diffractométrique. Avec sa source réglable, son monochromateur, son détecteur d'images bidimensionnel et son logiciel intelligent, l'équipement est capable de mesurer avec précision les propriétés des matériaux cristallins. Ce système peut être utilisé pour un certain nombre d'applications, telles que le balayage des rayons X de poudre et la réflectivité, l'évaluation des surfaces et des matériaux, et l'établissement de relations structure-propriété.