Occasion PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #293652326 à vendre en France

PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830 est un appareil de diffractomètre à rayons X conçu pour l'analyse structurale en laboratoire. Il s'agit d'un instrument polyvalent qui permet une grande variété d'applications, y compris des analyses structurelles qualitatives, quantitatives et approfondies. PHILIPS PW 2830 est constitué d'une source, d'une chambre d'échantillonnage, d'un monochromateur, d'un détecteur et de l'électronique associée. La source de rayons X est constituée d'un tube à rayons X piloté par une alimentation électronique. L'alimentation en haute tension du tube à rayons X peut être réglée jusqu'à 40 kV et fonctionne généralement à 25 kV. La source est collimatée pour produire un faisceau avec une divergence de 1-2,5 mrad, et le profil du faisceau est réglable pour donner la résolution désirée. L'échantillon est placé dans une chambre d'échantillonnage, où il est exposé au faisceau de rayons X. La chambre est équipée d'un manipulateur motorisé de positionnement de l'échantillon. L'échantillon peut être orienté dans presque n'importe quelle configuration, ce qui permet d'étudier différents types de structures cristallines. Le monochromateur est constitué d'un miroir à rayons X et d'un filtre à énergie. Le miroir de rayons X réfléchit le faisceau de rayons X incident et le dirige sur l'échantillon. Le filtre d'énergie est utilisé pour éliminer les rayons X parasites et pour sélectionner l'énergie de rayons X désirée. Le monochromateur assure également une collimation réglable du faisceau, permettant une meilleure résolution des motifs de diffraction. L'électronique de détection du système PANALYTICAL PW 2830 est constituée d'un détecteur, d'un amplificateur et d'un circuit de mise en forme d'impulsions. Le détecteur est un semi-conducteur, typiquement un dispositif à base de silicium à surface perméable. L'amplificateur est utilisé pour augmenter la sensibilité du détecteur. Le circuit de mise en forme des impulsions est utilisé pour conditionner le signal détecteur et assurer que seuls les signaux pertinents sont transmis à l'unité d'acquisition de données. La machine PW 2830 est capable d'effectuer divers types de diffraction, y compris des expériences en plan, hors plan et en temps de vol. En outre, PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830 peut générer une variété de graphiques, y compris des diagrammes de traces monocristallines et des diagrammes Debye-Scherer. L'outil est également équipé d'un logiciel permettant le traitement et l'analyse des données. Dans l'ensemble, PHILIPS PW 2830 est un actif puissant et fiable de diffractomètre à rayons X qui a été largement adopté pour l'étude de la structure cristalline en laboratoire. Il est capable de fournir des résultats de haute qualité dans un laps de temps relativement court, et est équipé d'une variété de caractéristiques pour aider à de telles enquêtes.