Occasion PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #9209447 à vendre en France

ID: 9209447
XRF Wafer analyzer.
PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830 est un système à rayons X largement utilisé dans les applications industrielles pour détecter les défauts et les défauts. Ce dispositif offre une résolution extrêmement élevée et permet de détecter même les plus petits défauts. Il a une large gamme d'applications et peut être utilisé à la fois pour la détection de défauts et pour l'analyse de matériaux non métalliques. PHILIPS PW 2830 se compose d'une unité source, d'une unité détecteur et d'une unité de commande. L'unité source contient une source et un tube de rayons X, une pompe à vide, une alimentation électrique, un ventilateur de refroidissement et un PCB qui contrôle le fonctionnement de l'appareil. Cette unité est également capable de réguler l'énergie et la durée des impulsions de rayons X, ce qui permet d'obtenir des résultats optimaux. L'unité de détection est utilisée pour détecter les rayons X générés par l'unité source. Il se compose d'un écran de scintillation qui convertit les rayons X en lumière visible et d'une caméra CCD qui capture cette lumière. L'unité de détection est reliée au système de commande par l'intermédiaire d'un câble qui permet le transfert de commandes et de données de commande. L'unité de contrôle est chargée de contrôler les unités de source et de détection ainsi que de convertir les signaux de rayons X détectés en images numériques. PANALYTICAL PW 2830 fournit une résolution extrêmement élevée supérieure à 25 µm, ce qui permet de détecter même les plus petits défauts et défauts. Il est capable d'inspecter des échantillons dont la taille varie de 0,8 mm à 150 mm. Le dispositif peut être utilisé pour analyser jusqu'à trois échantillons simultanément et est conçu pour un fonctionnement rapide et à faible bruit. Il est également équipé de techniques avancées de traitement du signal telles que la transformée d'ondelette et les filtres d'amélioration d'image, qui permettent de détecter même les plus petits défauts. En outre, PW 2830 est conçu avec une interface logicielle intuitive qui rend le fonctionnement simple et permet à l'utilisateur d'ajuster rapidement et facilement des paramètres tels que le temps d'exposition, les paramètres de traitement du film et les filtres d'amélioration d'image. PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830 est un système de radiographie fiable et polyvalent avec de nombreuses applications dans l'industrie. Grâce à sa haute résolution et à son fonctionnement rapide, c'est un outil idéal pour détecter les défauts et les défauts dans les matériaux métalliques et non métalliques.
Il n'y a pas encore de critiques