Occasion PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #9211899 à vendre en France

PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830 est un appareil de diffractomètre à rayons X conçu pour des applications industrielles. Ce système est capable d'analyser un large éventail de types d'échantillons, y compris des polymères, polycristallins et monocristaux, et même du verre. Sa source de rayons X haute brillance et ses options de détecteurs flexibles fournissent des mesures rapides et précises. L'unité comprend plusieurs composants, dont une source de rayons X, un porte-échantillon, une machine de mouvement, une tour de mesure et un détecteur. La source de rayons X est un tube à anode à anode de molybdène de haute luminosité, qui peut fournir un rayonnement X d'intensité variable. Le porte-échantillon maintient solidement l'échantillon en place tandis que l'outil de mouvement permet la rotation de l'échantillon et le mouvement angulaire. La tour de mesure abrite la source de rayons X, le détecteur et le monochromètre, qui filtrent et mesurent le rayonnement X. PHILIPS PW 2830 est personnalisable en termes de détecteurs et de placement. Les options comprennent une gamme de détecteurs de bandes de silicium refroidi Peltier ou de détecteurs de scintillation, ainsi que d'autres matériels nécessaires, par exemple l'optique sous vide et la collimation réglable. Il fournit également une chambre d'environnement d'échantillon et multi-porte-échantillons pour une personnalisation ultérieure, y compris des mesures à haute température dans l'air ou sous vide. L'analyse d'échantillon sur PANALYTICAL PW 2830 est simple et rapide. Une fois que l'échantillon est placé dans le porte-échantillon et que le détecteur est sélectionné et monté, il suffit de régler les paramètres de balayage et de commencer la mesure. Les données sont collectées en temps réel et peuvent être analysées de diverses façons, telles que tracer l'intensité relative, les positions de crête, l'intensité de crête ou les formes de fond, et plus encore. Les nombres générés par l'analyse d'un échantillon sur PW 2830 peuvent alors être utilisés pour étudier les propriétés physiques et chimiques du matériau testé. Sa combinaison de données de haute qualité avec une programmation conviviale fait de ce diffractomètre à rayons X un atout idéal pour une large gamme d'applications industrielles.