Occasion PHILIPS PW 2800 XRF #293754145 à vendre en France

Fabricant
PHILIPS
Modèle
PW 2800 XRF
ID: 293754145
Wafer analyzer.
PHILIPS PW 2800 XRF est un équipement de fluorescence aux rayons X (XRF) de pointe conçu pour des applications analytiques avancées dans une variété d'industries, y compris l'exploitation minière, la métallurgie, la surveillance de l'environnement, la recherche et le contrôle de la qualité. Cet instrument haute performance combine des capacités de mesure de précision et une opération conviviale pour fournir des résultats d'analyse élémentaire précis et fiables. Au cœur du système PW 2800 XRF se trouve son générateur de rayons X sophistiqué, qui produit un faisceau de rayons X de haute intensité pour exciter le matériau de l'échantillon. Le tube à rayons X est optimisé pour la stabilité et la durabilité, assurant des performances constantes sur de longues séances de mesure. L'unité dispose également de technologies avancées de mise en forme et de focalisation des faisceaux pour maximiser l'intensité du faisceau de rayons X sur la surface de l'échantillon, améliorant la sensibilité et la précision analytique. PHILIPS PW 2800 XRF est équipé d'un détecteur de rayons X haute résolution qui capture la fluorescence caractéristique des rayons X émis par l'échantillon lorsqu'il est irradié par le faisceau de rayons X. Le détecteur est conçu pour recueillir et mesurer efficacement les signaux de rayons X, en fournissant des informations détaillées sur la composition élémentaire de l'échantillon. La machine offre une large gamme de détection, permettant l'analyse des éléments de la lumière aux métaux lourds avec une grande sensibilité et précision. L'un des points forts de l'outil PW 2800 XRF est sa capacité polyvalente de manipulation des échantillons. L'instrument peut accueillir un large éventail d'échantillons, y compris des solides, des poudres, des liquides et des couches minces. L'actif dispose d'un étage d'échantillonnage réglable avec des commandes de positionnement de précision, permettant aux utilisateurs d'optimiser les conditions de mesure pour différentes géométries et tailles d'échantillons. De plus, le PHILIPS PW 2800 XRF offre des options pour la manipulation et l'analyse automatisées des échantillons, l'augmentation du débit et de l'efficacité dans les environnements de test à haut volume. L'interface logicielle du modèle PW 2800 XRF est conçue pour une utilisation facile et intuitive. Le logiciel de l'équipement permet aux utilisateurs de configurer les paramètres de mesure, d'initier l'acquisition de données et d'analyser les résultats en quelques clics simples. Le logiciel comprend également des algorithmes avancés de traitement de données pour l'analyse élémentaire quantitative, l'ajustement de la courbe d'étalonnage et la déconvolution spectrale, permettant aux utilisateurs d'extraire des informations précieuses à partir de spectres XRF complexes. En termes de performance, le système PHILIPS PW 2800 XRF offre une sensibilité et une précision analytiques exceptionnelles. L'unité est capable de détecter des oligo-éléments à des niveaux ppm (parties par million) dans diverses matrices d'échantillons, fournissant des informations précieuses pour la quantification élémentaire et l'identification. PW 2800 XRF offre également une excellente répétabilité et reproductibilité, assurant des résultats cohérents sur plusieurs mesures et échantillons. Dans l'ensemble, la machine PHILIPS PW 2800 XRF est un instrument de pointe pour l'analyse élémentaire et les applications de caractérisation des matériaux. Avec sa puissante source de rayons X, son détecteur haute résolution, sa manipulation polyvalente des échantillons et son interface logicielle conviviale, PW 2800 XRF offre une solution complète aux chercheurs, aux analystes et aux professionnels du contrôle de la qualité qui recherchent des capacités d'analyse élémentaire précises et fiables.
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