Occasion PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 5600 #9200534 à vendre en France

PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 5600
ID: 9200534
Style Vintage: 1996
X-Ray photo electron spectrometer 1996 vintage.
PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 5600 est un instrument d'analyse aux rayons X. Il s'agit d'un équipement interdépendant composé d'un monochromateur à rayons X multi-réflecteurs (MRX), couplé à une unité de détection haute performance. Le système est capable d'effectuer une large gamme d'analyses par spectroscopie d'émission d'électrons secondaires et de rayons X (XES/XPS) de niveaux peu profonds. Les composants principaux de l'unité PHI 5600 comprennent l'installation d'instrumentation de source, chambre, analyseur et détecteur. La source est un monochromateur à rayons X multi-réflexions qui génère des faisceaux de rayons X monochromatiques collimatés avec des énergies régulées par la sélection de filtres de lignes d'énergie particulières. Les poutres sont dirigées vers l'intérieur de la chambre à vide où un échantillon est monté pour analyse. La surface de l'échantillon est bombardée par le faisceau de rayons X monochromatiques qui provoque la pulvérisation de matière hors de la surface de l'échantillon, ainsi que l'émission d'électrons secondaires. L'analyseur de la machine est utilisé pour séparer les électrons X et secondaires en fonction de leurs énergies cinétiques. L'unité de détection enregistre les signaux produits lorsque les rayons X et les électrons secondaires traversent une coupe de Faraday. Le signal est ensuite transféré vers un outil informatique d'analyse. ELECTRONIQUE PHYSIQUE L'actif 5600 fournit un large éventail d'informations telles que la sensibilité des éléments, l'état d'excitation, la résolution d'énergie, l'intensité et le profilage de profondeur. Il est également capable d'effectuer la cartographie chimique de surface, la mesure de la durée de vie maximale, la caractérisation Auger, et la quantification des énergies de liaison. Le modèle est utile dans diverses applications scientifiques, y compris l'analyse des matériaux, la caractérisation des surfaces à l'échelle des nanomètres, l'analyse des couches minces et la surveillance de la corrosion/contamination. Les avantages de l'équipement 5600 comprennent un rapport signal/bruit élevé, une faible sensibilité de la surface et un degré élevé de couverture de l'échantillon. De plus, l'instrument permet un alignement rapide et facile des sources ainsi que le déplacement des échantillons sans compromettre les résultats d'analyse. Le système est conçu pour être facile à utiliser, permettant aux utilisateurs de mener leurs expériences rapidement et efficacement.
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