Occasion RIGAKU 3640 XRF #157114 à vendre en France
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Vendu
ID: 157114
Taille de la plaquette: 6"-8"
Style Vintage: 2003
Wafer / Disk analyzer, 6"-8"
5 Standard elements for measuring:
Ti, TiW(90/10), Au, TiW/Au (layer 1 TiW & layer 2 Au), Ti/Au(layer 1 Ti & layer 2 Au)
Each correlation parts with (3) different thickness for measurement check
Applied to semiconductor / drive IC front end process of bumping
Configuration:
Main body: Measuring stage with vacuum function by X-ray
Main column and chamber
Single chamber only
Manual wafer transfer robot unit
Display unit:
Monitor shows statistic character on monitor
Power transformer BOC EDWARDS IL70 dry pump
Chiller: Yes
Utilities:
CDA
N2
PCW
Main M/C
Holders, 6"-8"
X-Ray tube
Ti Goniometer
Scanning goniometer
Heat exchanger
High voltage transformer
Automatic voltage regulation
Manual L/UL
Control and vision system:
Control system: PC Based with RS232 port
Operation man-machine interface: Color touch panel, 18"
Data collection: yes
Facility and environment:
Operation temperature: 15-25°C
Relative humility: ≤75%
N-2 for dry pump:
Flow rate: 10 mL/min
Pressure: 0.3~0.7 MPa (3~7kg/cm-2)
Cooling water for heat exchange:
Temperature: ≤ 30 °C
Pressure: 0.2~0.4 MPa (2~4kg/cm2)
Quality: City water
Cooling water for dry pump:
Flow rate: 3.5 L/min
Temperature: ≤30°C
Pressure: 0.2~0.4 MPa (2~4kg/cm2)
Quality: City water
(2) Operation manuals
Installation instruction
System module introduction
Operation instructions
Safety instructions
(2) Repair and maintenance manuals
PM Instructions
Trouble shooting instructions
Circuit diagram
208 VAC, 60 Hz, 3 Phase, 80A
Currently warehoused
2003 vintage.
RIGAKU 3640 XRF est un équipement de fluorescence à rayons X dispersif d'énergie conçu pour mesurer la composition des oligo-éléments dans des matériaux tels que les sols, les minerais et les pièces. Ce système de radiographie combine des technologies de pointe telles que le balayage 3D, l'acquisition de données à grande vitesse et un analyseur multi-canaux pour fournir des résultats avec un haut degré de précision. Au cœur de 3640 XRF se trouve sa source d'excitation des rayons X qui produit des rayons X de courte longueur d'onde. Un collimateur dirige alors ces rayons X vers le matériau de l'échantillon. Lorsque les rayons X interagissent avec le matériau, ils excitent les électrons dans le matériau et les font émettre des rayons X fluorescents. Ces rayons X fluorescents sont ensuite collectés par un détecteur et analysés par l'analyseur multicanal. L'analyseur multi-canaux enregistre l'intensité, l'énergie et le spectre des rayons X émis par le matériau de l'échantillon. RIGAKU 3640 XRF est capable de mesurer la composition de différents éléments dans un matériau en temps quasi réel. Cela le rend utile pour un large éventail d'applications telles que le contrôle des procédés, l'assurance de la qualité et la surveillance de l'environnement. La machine effectue également un balayage 3D qui permet de mesurer des oligo-éléments dans plusieurs profondeurs et positions d'échantillons. L'outil est également conçu pour fournir des résultats précis. Il utilise un analyseur multi-canaux haute résolution qui peut détecter même les éléments d'énergie les plus faibles. En outre, le logiciel convivial de l'actif permet d'exporter les données rapidement et facilement pour une analyse plus approfondie. Le modèle 3640 XRF est adapté à une variété d'applications dans les milieux de la recherche, de l'éducation et de l'industrie. Ses technologies avancées, sa précision, sa portabilité et son temps d'installation rapide en font un choix idéal pour tout type de projet.
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