Occasion RIGAKU 3750 #293601029 à vendre en France

RIGAKU 3750
Fabricant
RIGAKU
Modèle
3750
ID: 293601029
X-Ray system.
RIGAKU 3750 est un appareil de diffractomètre à rayons X conçu pour effectuer des mesures de diffraction des rayons X pour divers matériaux, dont les métaux, les polymères, les céramiques, les alliages et les composites. Le système est composé de deux composants principaux : une source de rayons X et un détecteur. La source de rayons X émet un faisceau de rayons X à différentes longueurs d'onde, et le détecteur recueille des données sur les rayons X diffractés qui sont ensuite analysées par le logiciel pour déterminer la structure cristalline du matériau analysé. La source de Rayons X utilisée dans 3 750 est une source de Rayons X sans équipement de 25 kW qui est capable de produire un rayon de Rayons X puissant et ferme. Le faisceau de rayons X a un angle de décollage réglable qui permet aux utilisateurs de choisir l'angle optimal pour résoudre au mieux la structure cristalline de leur matériau. Le détecteur utilisé dans RIGAKU 3750 est un détecteur de pixels Pilatus 300K d'une taille de pas Theta/2Theta 0,02 °, capable de détecter jusqu'à 100 pics. 3750 unités sont conçues pour la collecte de données avec un changeur d'échantillon automatique pour un maximum de 24 échantillons. La machine est également compatible avec SCX - Single Cone XRD, permettant l'analyse de grands échantillons maladroits comme ceux extraits des sites de caténation. En outre, RIGAKU 3750 a la capacité de réaliser des mesures de faible résolution et de balayage rapide, ainsi que la diffraction atypique (ATD), la mesure de champ sombre, tous les goniomètres 5 axes, DCM (comparaison numérique signal/image), l'optique de polarisation, ainsi qu'une large gamme d'accessoires. Grâce à ses caractéristiques et composants, 3750 peuvent être utilisés pour effectuer une large gamme de mesures de rayons X. Il s'agit notamment de la diffraction des rayons X (XRD), de la fluorescence des rayons X (XRF), ainsi que de la micro- et de la nano-caractérisation. Il peut être utilisé pour l'analyse de matériaux tels que métaux, alliages, semi-conducteurs, polymères, couches et revêtements. Dans l'ensemble, RIGAKU 3750 est un outil puissant et flexible de diffractomètre à rayons X qui convient à un large éventail d'industries et d'applications. Son acquisition de données précises, sa gamme avancée de fonctionnalités et d'accessoires, ainsi que les diverses analyses de diffraction des rayons X qu'il peut effectuer, en font un choix idéal pour de nombreux utilisateurs.
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