Occasion RIGAKU 3750 #9091967 à vendre en France

RIGAKU 3750 est un équipement de diffraction des rayons X conçu pour des applications de recherche avancées. Le système est capable de mesurer à la fois des échantillons de poudre et de monocristaux, ainsi que des travaux de diffraction standard tels que l'identification de phase et le raffinement structurel. L'unité comprend un générateur de rayons X très précis, un goniomètre en boucle fermée et un détecteur de rayons X sensible à la position, tous intégrés dans une conception mécanique ergonomique avec contrôle de précision du positionnement des échantillons. 3750 commence avec le générateur de rayons X. En utilisant une tension fixe de 40 kV, jusqu'à 10 mA de courant, il produit un diagramme de diffraction des rayons X stable avec des pics brusques. La source de rayons X a une petite taille de tache réglable de 0,1 mm, qui peut être utilisée pour se concentrer sur de petites régions d'un échantillon pour des résultats précis. Le générateur de rayons X peut être refroidi pour augmenter la stabilité, tandis qu'un mécanisme d'obturation empêche l'irradiation du personnel. Les rayons X diffractés sont alors détectés par le détecteur de rayons X sensible à la position, qui est capable de délivrer des données avec une précision de 0,01 °/pas. Le détecteur contient une zone d'imagerie de 20 x 20 mm pour la détection des positions de crête de Bragg, et un capteur CCD pour l'analyse des données de diffraction angulaire. Le détecteur comprend également un intensificateur d'image intégré pour l'acquisition d'images in situ. Le goniomètre est le composant clé qui permet un positionnement et un alignement précis des échantillons. Le goniomètre motorisé contient un étage d'échantillonnage précis et une source de rayons X avec six degrés de liberté qui peuvent être déplacés indépendamment ou en combinaison pour amener le faisceau de rayons X et l'échantillon dans la région d'interaction. Un codeur-capteur précis permet un contrôle précis de l'étage d'échantillonnage, avec une résolution de 0,01 ° pour les axes angulaires. L'outil RIGAKU 3750 intègre tous ces composants dans un ensemble mécanique de conception ergonomique. L'actif est facile à utiliser et peut être utilisé à distance ou avec un contrôle manuel. L'interface est conçue pour une manipulation efficace du faisceau de rayons X et de la position de l'échantillon, ce qui réduit considérablement le délai de réalisation. En conclusion, 3750 est un puissant modèle de rayons X conçu pour des applications de recherche avancées. Il fournit la précision et la stabilité nécessaires pour des données de diffraction précises, ainsi qu'une interface fiable et efficace pour la manipulation du faisceau de rayons X et de l'étage d'échantillonnage.