Occasion RIGAKU MFM310 #9251835 à vendre en France
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Vendu
ID: 9251835
Taille de la plaquette: 12"
X-Ray Reflectivity (XRR), 12"
XRR X-Ray generator
Automatic wafer handling robot system, 8"-12"
With wafer handling capability and wafer pre-aligner
(2) FOUP Load Ports, 12"
With FOUP ID Readers
Beam module:
Cu colors beam
Mo colors beam
Sample stage
With vacuum chuck, 8"-12"
Computer controlled stage motion for X, Y, 0 and Z-Axis
Precise goniometer
With sensing optical encorder system
Control and data processing system:
Control computer
Operating system: Windows XP
LCD Monitor
Air cooling chiller
Center chip
Isolated stone base for optic mechanism
Anti-vibration structure
COGNEX Pattern recognition.
RIGAKU MFM310 est un outil de métrologie aux rayons X pour des applications industrielles. Il s'agit d'un système ultramoderne d'imagerie par rayons X qui fournit des images à haute résolution et à grand champ. Il est conçu pour mesurer rapidement et caractériser avec précision une grande variété d'échantillons. Le système est construit avec plusieurs technologies avancées de détection et d'imagerie pour une précision et une fiabilité maximales. RIGAKU MFM 310 est construit avec une large gamme de composants, tels que des modules de détection de rayons X, un tube xénon, et une tour. Les modules de détection sont utilisés pour détecter le rayonnement X et produire une image haute résolution. Le tube au xénon est une source de rayonnement X de forte puissance qui est utilisée pour irradier l'échantillon. La tour est une structure de support qui sert à maintenir les composants en place et à assurer un alignement correct. MFM310 utilise deux méthodes différentes pour l'imagerie : la détection ponctuelle et l'imagerie en champ entier. En détection ponctuelle, le détecteur mesure le nombre de photons X générés par l'échantillon. Dans l'imagerie en champ entier, la taille et la position des caractéristiques de l'échantillon sont représentées en même temps. Cela permet des mesures plus précises. MFM 310 offre également une grande variété d'options de spectroscopie, y compris la spectroscopie de diffusion Raman et la spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier. Ces techniques sont utilisées pour mesurer la composition des échantillons et déterminer comment ils interagissent avec les différentes formes de rayonnement. De plus, RIGAKU MFM310 offre des capacités de résolution avancée et de rapport signal sur bruit (SNR) pour garantir une analyse et des résultats précis. Le système peut détecter des caractéristiques aussi petites que 0,5 micromètre et a un SNR de plus de 100 000:1. Cela permet de capturer des détails complexes et de mesurer même de très petites caractéristiques avec précision. Globalement, RIGAKU MFM 310 est un outil avancé de métrologie des rayons X pour des applications industrielles. Il fournit des images à haute résolution, grand champ avec des technologies avancées de détection et d'imagerie. Il offre également de larges capacités de spectroscopie, des capacités haute résolution et SNR, et plus encore, ce qui en fait un choix idéal pour les utilisateurs.
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