Occasion RIGAKU MFM65 #9234626 à vendre en France

RIGAKU MFM65 est un équipement de diffraction des rayons X haute performance conçu pour fournir des mesures à haute résolution des données de diffraction des rayons X. Le système est utilisé pour acquérir des données de diffraction des rayons X sur divers matériaux, y compris des poudres, des monocristaux, des couches minces et des structures d'interface. L'unité comprend une source de rayons X à géométrie réglable, un monochromateur pour produire les caractéristiques souhaitées du faisceau de rayons X, une chambre d'échantillonnage pour loger les échantillons à diffracter, un détecteur pour mesurer les rayons X diffusés, et une machine d'acquisition de données pour recueillir et analyser les données. La source de rayons X à géométrie réglable peut être utilisée pour produire des rayons X dans la gamme angulaire de 30-160 °. La source de rayons X haute énergie est blindée au plomb et peut être ajustée pour fournir un flux variable et des énergies de rayons X dans la gamme de 8-20 keV. Le monochromateur dirige les rayons X sur la chambre d'échantillonnage, qui est conçue pour le montage pratique de l'échantillon. La chambre d'échantillonnage est équipée d'un dispositif de focalisation pour les expériences à haute résolution et d'un porte-échantillons à géométrie finie pour les mesures monocristallines. Il comprend également un outil automatisé de chargement et d'alignement des échantillons. Le détecteur de RIGAKU MFM 65 est un réseau multi-éléments de scintillateurs à rayons X cristallins. Il présente un grand angle d'acceptation avec un grand angle de vision allant jusqu'à 160 °. L'actif est capable de mesurer les intensités de rayons X, les longueurs de linéarité, les paramètres de réseau et les informations cristallines en une seule mesure. MFM65 est également équipé d'un modèle d'acquisition de données pour enregistrer et analyser les données de diffraction des rayons X. MFM 65 fournit des données de diffraction des rayons X à haute résolution et à haut rendement. La source de rayons X à géométrie réglable et le détecteur de scintillateurs multi-éléments permettent de mesurer les intensités de rayons X sur une large gamme d'angles. La chambre d'échantillonnage est conçue pour le montage facile des échantillons et dispose d'un équipement automatisé de chargement et d'alignement des échantillons. RIGAKU MFM65 est le choix idéal pour des mesures de diffraction des rayons X à haute résolution de divers matériaux, des films minces et des monocristaux aux poudres et aux interfaces.