Occasion RIGAKU Miniflex #9235702 à vendre en France

Fabricant
RIGAKU
Modèle
Miniflex
ID: 9235702
Style Vintage: 2001
X-Ray diffraction system Sample changer Single sample holder 2001 vintage.
RIGAKU Miniflex est un appareil de diffractomètre à rayons X sur table qui est adapté pour des applications à basse énergie. Le système dispose d'une source de rayons X de faible puissance et d'un diffractomètre bidimensionnel facilement réglable. Cette unité est capable de mesurer des angles d'échantillons jusqu'à 0,25 °, et convient à un large éventail d'applications telles que la détermination de phase, la caractérisation de l'ordonnancement structurel, l'analyse de cristallinité, l'analyse de texture et la mesure des contraintes résiduelles. Miniflex est composé d'un certain nombre de composants qui travaillent ensemble pour fournir une analyse rapide, précise et fiable de la diffraction des rayons X. Cette machine comprend un diffractomètre 2D, qui se compose de deux moteurs (le moteur à axe X et le moteur à axe Z) ainsi qu'un outil de manipulation d'échantillons de précision. Le moteur à axe X idéalement situé est capable de manipulation rapide et précise de l'échantillon, permettant une rotation dans l'axe X de 0 à 360 degrés. Le moteur à axe Z, situé au fond du diffractomètre, peut fournir un mouvement rapide et précis à n'importe quel point dans un arc de 360 degrés. L'actif de manipulation de l'échantillon permet de déplacer l'échantillon dans les axes X et Z. De plus, ce modèle dispose d'une source de rayons X haute résolution et de faible puissance. La source de rayons X est utilisée pour la cristallinité, l'analyse texturale et la détermination de phase. Un échantillon ou un échantillon est placé dans la chambre d'échantillonnage de RIGAKU Miniflex, des rayons X basse énergie sont irradiés sur celui-ci. Comme les rayons X interagissent avec l'échantillon, ils génèrent une diffraction des rayons X qui révèle la structure cristalline, la composition chimique et la structure de phase de l'échantillon. Les rayons X diffusés de l'échantillon sont enregistrés par le détecteur et le signal est amplifié et transmis à un ordinateur pour un traitement ultérieur et une analyse de données. Les données recueillies par le RIGKU Miniflex sont très précises et fiables et peuvent être utilisées pour déterminer une variété de paramètres tels que la cristallinité, l'analyse texturale et l'identification de phase. En outre, l'équipement est également capable de mesurer les contraintes résiduelles provoquées par le traitement thermique, l'usinage et d'autres procédés. De plus, les données collectées par le système sont très reproductibles en raison de la cohérence de la source de rayons X basse énergie, et de la grande précision de l'unité de diffractomètre. Le RIGKU RIGAKU Miniflex est une machine robuste qui fournit une analyse précise et à haute résolution de la diffraction des rayons X qui peut être utilisée dans des applications de recherche et de développement. Sa source de rayons X basse énergie, son diffractomètre bidimensionnel et son outil de manipulation d'échantillons de précision en font un excellent choix pour ceux qui recherchent une analyse fiable et précise de la diffraction des rayons X.
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