Occasion RIGAKU R-AXIS IV++ #9184694 à vendre en France
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ID: 9184694
Image plate detector
2D X-Ray detector system
Reader section:
Reader device
Sample axis (Φ-axis: standard, K-goniometer: option)
Camera length adjustment section
Optics section:
Graphite monochromator optics
Mirror-mirror optics
Multilayer-film mirror
Reader section:
White IP size: 300 x 300 mm
(2) Blue IP size: 200 x 200 mm
Readable pixel size:
White IP: 100 μm x 100 μm or 200 μm x 200 μm
(2) Blue IP: 50 μm x 50 μm
Reading time:
100 seconds when the 100 μm x 100 μm size is used
50 seconds when the 200 μm x 200 μm size is used
180 seconds when the 50 μm x 50 μm size is used
Laser light source: Semiconductor laser (maximum rating: 35 mW)
Detector: Photomultiplier tube
Dynamic range: 1 to 1.04 x 106 ADU
Reading sensitivity: (2) counts/X-ray photon
Background:
Sigma value: 1.0 photon/pixel or smaller
Erasure time: 20 seconds
Controller section:
Data conversion: ADC/20-bit
Data transfer: PIO System
Control: RS-232C
HV: -600 V
ϕ-Axis stage section:
Goniometer steps: 0.002°
Maximum speed: 720°/min
Manual rotation: 360° free rotation
Height adjustment range: ±15 mm
Beam stopper: Automatic escape mechanism incorporated
Camera length adjustment range: 70 to 300 mm
Camera length indicator: Digital (Minimum digits: 0.1mm)
Telescope: Erect image, 40X ( collapsible)
Goniometer head used: IUCr 49 mm type (64 rnm type usable)
Reader section:
Reader main body set
Vacuum pump (with a connection tube)
Connection cables
Reader/Φ axis stage connection cable
Reader/controller connection cable
Controller section:
Controller set
Connection cables:
Controller/reader connection cable
Controller/CPU connection cable
Controller/X-ray generator connection cable
(2) Enclosure color types: Black and blue.
RIGAKU R-AXIS IV++ + est un appareil à rayons X de pointe conçu pour l'analyse qualitative et quantitative des matériaux non cristallins et cristallins. Ce système permet la détermination rapide et précise de la composition élémentaire et de phase du matériau dans une large gamme d'architectures d'échantillons. R-AXIS IV++ + comprend un générateur de rayons X chargé d'un tube à rayons X d'une puissance de 4 kW, et un porte-échantillon 2D/3D spécialement conçu pour le positionnement des échantillons. Le porte-échantillons 2D est capable de transporter des échantillons jusqu'à 500 mm de diamètre, tandis que le porte-échantillons 3D permet de recevoir des échantillons de forme irrégulière d'une taille > 500 kg. L'unité est également équipée d'une tête de goniomètre à grande vitesse pour faire tourner des échantillons dans le faisceau de rayons X afin de mesurer avec précision tous les angles de diffraction des rayons X (XRD). Le porte-échantillon est couplé à une conception cristalline d'analyseur de 600 mm de long qui est placeable sur l'échantillon et configuré pour être coplanaire avec le faisceau de rayons X, permettant une performance optimale de la machine XRD. RIGAKU R-AXIS IV++ dispose d'un détecteur haute résolution, avec un détecteur linéaire sensible à la position de 17 000 éléments utilisant un réseau de détecteurs de 512 x 1024 pixels et un amplificateur construit sur un manipulateur à 5 axes. Cela permet de recueillir des données 2D XRD à haute résolution à partir de niveaux compris entre 10 et 10000 compteurs/s, ce qui permet de déterminer rapidement et avec précision la composition et la structure des matériaux. L'outil est en outre équipé d'une interface informatique pour permettre l'acquisition et l'affichage en temps réel de données XRD et la comparaison des résultats avec une bibliothèque de spectre standard. R-AXIS IV++ supporte l'analyse d'un large éventail de matériaux, tels que poudres, pastillés, noyés dans l'huile et échantillons in situ, pour diverses applications telles que l'analyse en couches minces, l'analyse microXRD, l'analyse structurale et l'analyse chimique. L'actif est également très flexible, ce qui permet de personnaliser les processus de préparation, de mesure, de contrôle et d'analyse des échantillons. Dans l'ensemble, RIGAKU R-AXIS IV++ est un modèle puissant et avancé de rayons X qui offre aux utilisateurs une gamme de capacités pour effectuer des analyses avancées de rayons X et de matériaux. Il est très polyvalent, robuste, et fournit aux utilisateurs d'excellents résultats dans plusieurs applications différentes.
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