Occasion RIGAKU RTP300VWRC #9250287 à vendre en France

RIGAKU RTP300VWRC est un puissant équipement de diffraction des rayons X pour étudier les propriétés cristallographiques d'une grande variété de matériaux. Ce système permet des mesures rapides de diffraction des rayons X avec un logiciel de contrôle et d'analyse de données facile à utiliser. L'unité dispose d'une haute performance 300 kV source de rayons X avec une conception unique de large gamme de collimateur de rayons X qui peut détecter jusqu'à un demi-degré dans la gamme de 0-2 θ. Cela garantit les mesures diffractométriques les plus précises et la qualité optimale des données. Le détecteur est un comptoir de type de la scintillation de haute sensibilité spécial, qui a une résolution de détection minimale de 1μ pour les mesures de montage basses. RTP300VWRC dispose également d'une nouvelle version puissante du logiciel d'analyse aux rayons X RIGAKU pour la collecte et l'analyse de données. Ce logiciel permet aux utilisateurs de contrôler facilement les paramètres expérimentaux, tels que le temps d'exposition, la longueur d'onde des rayons X, la vitesse de rotation de l'échantillon, la plage de balayage θ et la taille du pas de balayage. Il offre également une variété d'outils d'analyse puissants, y compris l'ajustement des pics, l'analyse de l'orientation des grains, le rapport crête/fond, la taille des cristaux, le rayon Debye-Scherrer, les mesures de déformation, les indices d'orientation 10-Burgers, les paramètres de déformation des tailles, et plus encore. De plus, RIGAKU RTP300VWRC est livré avec une caméra CCD haute résolution, qui permet la capture d'images haute résolution de spécimens. Cela permet aux utilisateurs de mieux comprendre les propriétés cristallographiques détaillées de leurs échantillons. La machine dispose également de plusieurs dispositifs de retenue d'échantillons, dont un gabarit d'échantillons, un porte-échantillons à base de graphite et un porte-échantillons à hauteur variable. Dans l'ensemble, RTP300VWRC est un excellent outil de diffraction des rayons X pour un large éventail d'expériences, offrant des performances supérieures et des fonctionnalités faciles à utiliser qui en font une solution idéale pour la recherche et les applications industrielles.