Occasion RIGAKU TG 8120 #9078492 à vendre en France

RIGAKU TG 8120 Le diffractomètre à rayons X extrêmes (XRD) est un appareil de diffraction à rayons X haute performance, haute résolution et haute précision. Le système est conçu pour un large éventail d'applications, y compris la science des matériaux, les semi-conducteurs, la catalyse et les produits pharmaceutiques. Il utilise un faisceau de rayons X focalisé pour mesurer la diffraction des rayons X sur les cristaux et les échantillons. Ces informations peuvent ensuite être utilisées pour mesurer des propriétés physiques telles que la taille, la souche, la composition, les paramètres de réseau, en plus d'autres informations importantes pour la recherche et le développement de matériaux. L'unité TG 8120 XRD comprend plusieurs composants, dont une source de rayons X, un porte-échantillons, des porte-échantillons, une machine de détection et un refroidissement d'échantillons. La source de rayons X est un générateur de rayons X à anode tournante, conçu pour une homogénéité maximale des rayons X. L'outil est équipé d'un changeur d'échantillon automatisé, permettant de changer rapidement les mesures entre les échantillons. Le porte-échantillon est alimenté par un actionneur électromagnétique, permettant un positionnement précis de l'échantillon par rapport à la source de rayons X. Les détenteurs d'échantillons dans les capacités de régulation de la température de l'actif, permettant un réglage contrôlé de la température de l'échantillon. Le modèle de détecteur utilisé dans RIGAKU TG 8120 XRD comprend un détecteur d'image CMOS haute précision et haute vitesse pour détecter les motifs de diffraction des rayons X. Le détecteur est combiné à un oscilloscope numérique haute résolution, offrant une excellente stabilité et précision du signal. Le détecteur est capable de mesurer à la fois l'amplitude et la phase des rayons X diffractés. L'équipement de détection comprend également une caméra CCD intégrée, permettant l'imagerie numérique des motifs de diffraction des rayons X. Le système de refroidissement des échantillons en TG 8120 XRD aide à protéger les échantillons contre une exposition thermique excessive pendant la mesure. Il fonctionne en faisant circuler un liquide de refroidissement dans une boucle fermée, assurant un refroidissement efficace. L'unité de refroidissement de l'échantillon est programmable et peut être utilisée pour refroidir n'importe quel échantillon à des températures allant de -20 ° C à + 100 ° C RIGAKU TG 8120 XRD est une machine polyvalente qui peut être utilisée pour une grande variété d'expériences, telles que l'analyse des matériaux et des matériaux nanostructurés, l'étude de la porosité et de la densité des matériaux, la mesure de la cristallinité, la détermination des paramètres de la structure des cristaux, l'imagerie des matériaux et la mesure des contraintes, l'identification et l'analyse des phases, etc. Cet outil XRD est extrêmement précis, permettant des mesures avec une résolution de 0,5 arcsecondes en diffraction de rayons X 2 θ. L'actif est également capable de mesurer avec précision des échantillons présentant des désalignements rotationnels pouvant atteindre 15 degrés.