Occasion RIGAKU TXRF 3750 #293808357 à vendre en France

RIGAKU TXRF 3750
Fabricant
RIGAKU
Modèle
TXRF 3750
ID: 293808357
Style Vintage: 2007
X-Ray fluorescence system 2007 vintage.
RIGAKU TXRF 3750 est un puissant appareil à rayons X conçu pour des applications d'analyse de surface. Sa technologie de pointe en fait l'outil idéal pour caractériser la structure de surface et la morphologie d'un large éventail de matériaux. Ce système est équipé d'une source de rayons X unique qui fournit des rayons X très collimatés à une énergie très élevée. Le faisceau de rayons X est focalisé sur la surface de l'échantillon par une unité optique, ce qui permet de s'assurer que l'énergie des rayons X est précisément déposée dans les zones d'intérêt. Le créneau incident unique de la machine permet une large gamme de tailles d'échantillons à exécuter sur le TXRF, de quelques millimètres à 30 cm de long. De plus, la chambre à vide réglable permet d'étudier l'échantillon dans le vide, éliminant l'oxydation de surface et augmentant l'efficacité de l'échantillon et des rayons X. De plus, TXRF 3750 dispose d'une gamme de détecteurs pour détecter les rayons X émis par l'échantillon. Ces détecteurs comprennent des détecteurs à l'état solide, des détecteurs de fluorescence et des détecteurs à coupe Faraday. Cela fournit une gamme de capacités de détection et aide à s'assurer que toute la surface de l'échantillon est couverte. RIGAKU TXRF 3750 fournit également un ensemble puissant d'outils logiciels qui facilitent l'analyse de surface. Cela comprend des domaines tels que la préparation des échantillons, la collecte de données et l'analyse. Les données peuvent être traitées avec un large éventail d'outils logiciels tels que RIGAKU MultiAxes2, 3DCIP et RIXS- View. Dans l'ensemble, TXRF 3750 est un puissant outil de radiographie conçu spécifiquement pour les applications d'analyse de surface. Il dispose d'une puissante source de rayons X, chambre à vide réglable, gamme de détecteurs, et une gamme d'outils logiciels qui rendent l'analyse de surface facile. C'est un outil idéal pour caractériser la structure de surface et la morphologie d'un large éventail de matériaux.
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