Occasion RIGAKU Ultima IV #293674255 à vendre en France

Fabricant
RIGAKU
Modèle
Ultima IV
ID: 293674255
X-Ray Diffractometer (XRD).
RIGAKU Ultima IV est un diffractomètre à rayons X polyvalent conçu pour l'analyse de la diffraction des rayons X des matériaux dans la recherche, l'industrie et le secteur éducatif. Il se compose d'une source de rayons X, d'une monture d'échantillons et d'un détecteur alimenté par un système informatique intégré. Ultima IV offre une gamme de fonctionnalités telles que le contrôle de l'environnement des échantillons, un débit élevé, un progiciel d'imagerie amélioré et des méthodes améliorées d'acquisition et d'analyse des données. RIGAKU Ultima IV source de rayons X est construit autour d'un tube scellé et l'alimentation qui peut produire des rayons X avec des énergies allant de 0,2-2,5 keV. La source utilise une anode de tungstène avec une tache focale minimale de 0,1 mm et une puissance élevée jusqu'à 50kW, permettant une haute résolution pour les petits échantillons. Ultima IV utilise également plusieurs optiques à rayons X telles qu'un monochromateur à blindage central plié et des détecteurs de rayons X bidimensionnels sensibles à la position pour les capacités d'imagerie. Les échantillons sont montés dans un porte-échantillons automatisé qui peut supporter des échantillons allant des monocristaux aux gros grains ou autres matériaux polycristallins. Cette flexibilité permet d'étudier un large éventail de matériaux. RIGAKU Ultima IV offre également une indexation et un échelonnement automatisés rapides, qui réduisent considérablement le temps nécessaire pour évaluer le schéma de diffraction d'un échantillon. Parmi les autres fonctionnalités d'Ultima IV, mentionnons une interface conviviale avec une large gamme de logiciels complémentaires, le contrôle automatique de l'environnement des échantillons et la capacité de collecter et d'analyser des données en temps réel. Son approche automatisée permet aux utilisateurs d'obtenir rapidement des résultats corrects et fiables pour des matériaux difficiles comme les cristaux à haute pression, les nano-matériaux et les alliages. Lorsqu'il est utilisé en combinaison avec son logiciel d'imagerie, RIGAKU Ultima IV offre une combinaison puissante de technologie de diffraction et d'imagerie qui en font un système de rayons X idéal pour la recherche, l'industrie et les applications éducatives. Il s'agit d'un système très polyvalent adapté à un large éventail d'expériences et d'analyses, y compris l'identification de phase, la réflectivité de surface et de sous-surface, l'analyse de texture, les études de limites et l'analyse de stress.
Il n'y a pas encore de critiques