Occasion RIGAKU Wafer X-300 #9145497 à vendre en France

RIGAKU Wafer X-300
Fabricant
RIGAKU
Modèle
Wafer X-300
ID: 9145497
Taille de la plaquette: 8"/12"
X-Ray fluorescence spectrometer, 8"-12".
RIGAKU Wafer X-300 est un appareil ultramoderne conçu pour des applications à haute énergie. Le but principal du système est de mesurer les propriétés physiques des matériaux, comme la souche, le dopage et la texture, à l'échelle atomique ou quasi atomique. L'unité utilise une source d'énergie élevée et un scintillateur à grande surface pour produire des images à haute résolution d'échantillons jusqu'à 7 nm d'épaisseur. La source de RIGAKU WAFERX 300 est un générateur de rayons X de 100 keV, qui produit une large gamme de longueurs d'onde X. Cela permet d'examiner une gamme de matériaux et de structures hétérogènes jusqu'à 7 nm d'épaisseur. La machine est contrôlée par un panneau de commande spécialement conçu, qui fournit une régulation précise de la dose de rayons X, l'alignement du faisceau et le temps d'exposition. Le scintillator utilisé pour la Gaufrette le détecteur d'image de X-300 est une grande région (260 x 215 centimètres) et scintillator sélectif de la longueur d'onde fait d'une matière de cadmium-zinc-telluride (CZT). Le scintillateur est capable de détecter des photons à rayons X avec des énergies allant jusqu'à 100 keV. Le détecteur a également un rendement quantique élevé, avec un rendement de détection allant jusqu'à 95 % pour les rayons X à haute énergie. En plus du détecteur de sources et d'images, WAFERX 300 comprend également une plate-forme automatisée de traitement d'échantillons. Cette plate-forme permet le chargement et le déchargement automatisés des échantillons de l'outil. La plate-forme dispose également de plusieurs manipulateurs d'échantillons dédiés, qui permettent la manipulation ou la manipulation d'échantillons externes sans intervention manuelle. L'actif est conçu pour être flexible, permettant une personnalisation en fonction des besoins d'une personne. RIGAKU Wafer X-300 peut être configuré avec une gamme de détecteurs, de sources de rayons X, de lentilles objectives et de luminophores. De plus, un logiciel personnalisable est inclus pour l'acquisition de données, le traitement d'images, l'analyse et le reporting. Dans l'ensemble, RIGAKU WAFERX 300 est un modèle de rayons X très sophistiqué qui convient à une variété d'applications à haute énergie. La conception de l'équipement combine une gamme de fonctionnalités avancées, y compris une source d'énergie élevée, scintillateur sélectif en longueur d'onde, et chargement et manipulation automatisés d'échantillons. Wafer X-300 est capable de produire des images à haute résolution d'échantillons hétérogènes jusqu'à 7 nm d'épaisseur, ce qui en fait un outil inestimable pour la recherche sur les matériaux.
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