Occasion SHIMADZU EDX-700HS #293779007 à vendre en France

Fabricant
SHIMADZU
Modèle
EDX-700HS
ID: 293779007
X-Ray fluorescence spectrometer X-Ray generator unit X-Ray tube: Rh target X-Ray filter Cooling method: Air-cooled X-Ray power supply unit: Voltage: 5-50 kV Metals: Cd, Pb, Hg, Br, Cr Current: 1-1000 μA Stability: ±0.01% Detector: Type: Si (Li) Detection area: 10 mm² Resolution: <150 eV Counting unit: Amplifier Fitting time: 10 μs Gain change: High / Low Multi-Channel Analyzer (MCA) Type: Sequential comparison ADC (2048) Channels Sample chamber: Sample size: 300 mm Measurement chamber: X-Ray bottom irradiation area Aperture diameter: 1, 3, 5, 10 mm Measurement atmosphere: Atmospheric CCD Digital observation system.
SHIMADZU EDX-700HS est un équipement puissant et polyvalent d'analyse des rayons X conçu pour fournir des capacités complètes de diffraction des rayons X (XRD) et de fluorescence des rayons X dispersive d'énergie (EDXRF). Ce système flexible peut analyser un large éventail de matériaux, y compris les métaux précieux, les alliages, les minéraux, les polymères et les couches minces jusqu'à 2 angströms. EDX-700HS est équipé d'un diffractomètre à rayons X multi-angles, d'un spectromètre à fluorescence X dispersive d'énergie (EDXRF) et d'une source de rayons X haute vitesse. Le XRD analyse les échantillons en produisant un faisceau étroit de rayons X monochromatiques qui interagissent avec la structure cristalline de l'échantillon, produisant une diffraction des rayons X ou un motif XRD. La caractéristique unique de SHIMADZU EDX-700HS est sa combinaison du spectromètre EDXRF puissant et simple d'utilisation et des capacités XRD polyvalentes. XRD et EDXRF peuvent être utilisés ensemble pour identifier la structure et la composition des échantillons avec précision et fiabilité. L'unité XRD d'EDX-700HS se compose d'une machine optique de projection à axe X et de deux lasers à CO2, capables de produire un rayonnement X de 5 à 40 degrés d'angle de balayage. Cela permet une collecte de données efficace, en moins de temps que les méthodes traditionnelles de diffraction. SHIMADZU EDX-700HS dispose d'une trajectoire de faisceau réglable avec une grande ouverture pour le positionnement d'échantillons polyvalents, et d'un générateur de balayage intégré pour des expériences d'échantillons rapides. Il dispose également de capacités de compensation de température et de fente variables pour une analyse précise des données. EDX-700HS utilise un spectromètre à fluorescence X dispersive d'énergie (EDXRF) pour saisir rapidement des données sur la composition des échantillons. Le spectromètre EDXRF est équipé d'un détecteur de scintillation et d'un compteur proportionnel pour détecter la fluorescence des éléments de l'échantillon. Ce spectromètre EDXRF permet de détecter des éléments à partir de quantités détectables jusqu'à la trace, avec une grande précision et précision sur un large éventail d'énergies. Dans l'ensemble, SHIMADZU EDX-700HS est un outil puissant et polyvalent d'analyse des rayons X qui combine les capacités XRD et EDXRF dans un outil simple à utiliser. Avec son matériel avancé et son logiciel convivial, EDX-700HS fournit une collecte de données efficace, fiable et précise. Il est idéal pour des applications dans diverses industries, y compris les métaux, les minéraux, les plastiques et les polymères, et l'analyse de couches minces.
Il n'y a pas encore de critiques