Occasion SIEMENS / BRUKER D8 Discover #293757948 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 293757948
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2011
X-Ray diffraction system, 12"
2011 vintage.
SIEMENS/BRUKER D8 Discover est un diffractomètre à rayons X haute résolution conçu pour analyser la structure cristalline des matériaux solides. Il fournit des données précises et fiables sur la cristallinité des matériaux pour de nombreux matériaux tels que les polymères, les métaux et les semi-conducteurs. BRUKER D8 Discover utilise un tube d'anode rotatif et un étage d'échantillonnage vertical pour appliquer des rayons X d'une longueur d'onde spécifique au matériau de l'échantillon. Lorsque le faisceau de rayons X est diffracté dans le matériau, les angles et les grandeurs des faisceaux diffractés sont mesurés. Ces données sont ensuite utilisées pour calculer le diagramme de diffraction de l'échantillon qui montre l'emplacement, l'intensité et la largeur des pics du diagramme de diffraction, appelé son diffractogramme. Ce diffractogramme est ensuite utilisé pour cartographier la cristallinité de l'échantillon et estimer son degré de cristallinité. SIEMENS D8 Discover offre une analyse rapide et fiable des matériaux des échantillons grâce à ses capacités de mesure et d'acquisition de données à grande vitesse. L'équipement dispose d'un système optique avancé qui lui permet de mesurer des échantillons avec une résolution beaucoup plus grande que les diffractomètres antérieurs. De plus, l'unité optique avancée est couplée à une machine de détection améliorée qui augmente la dynamique de l'outil et améliore sa précision. D'autres caractéristiques de l'actif comprennent des changeurs d'échantillons automatiques et un logiciel convivial qui permet aux scientifiques de générer des diffractogrammes précis en quelques clics seulement. D8 Discover fournit aux chercheurs les outils dont ils ont besoin pour obtenir des données fiables sur la cristallinité d'un échantillon rapidement et avec précision. Cela leur permet de prendre des décisions plus éclairées sur les propriétés et les applications de leurs matériaux. En outre, la vitesse et la précision élevées du modèle le rendent idéal pour la recherche en science des matériaux et dans d'autres domaines qui exigent des données précises sur la cristallinité des matériaux.
Il n'y a pas encore de critiques