Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO FT110 #293587917 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO FT110
ID: 293587917
XRF Analyzer Atomic absorption spectrophotometer Field emission scanning electron microscope Energy dispersive X-Ray fluorescence analyzer TMA7100 Thermo mechanical analyzer Thermal ionization mass spectrometer EA8000 X-Ray foreign body analyzer CMI165 Surface copper thickness gauge Spectrum 2 Platinum elmer infrared spectrometer OMEGAMETER 650SMD Ion pollution tester DAGE Quadra 5 X-Ray detection system.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO FT110 est un appareil à rayons X qui utilise une technologie de pointe pour offrir une imagerie aux rayons X de haute précision. Ce système de rayons X permet aux utilisateurs de capturer des images tridimensionnelles détaillées d'objets cibles. SEIKO FT110 consiste en une source de rayons X numériques, un processeur de signal numérique et un logiciel d'imagerie. La source de rayons X est composée de deux composants : un tube à rayons X qui émet les rayons X et un collimateur qui sert à diriger les rayons X vers la cible. Le processeur de signal est chargé de convertir le signal de rayons X en un signal numérique qui peut être traité. Le logiciel d'imagerie est utilisé pour reconstruire l'image tridimensionnelle de l'objet cible. Les principaux avantages de cette unité de radiographie sont le grand champ de vision, la haute résolution et la capacité de capturer des images à haute résolution en temps réel. Le grand champ de vision permet aux utilisateurs de capturer des images d'objets plus grands et de structures complexes en une seule fois. La haute résolution permet aux utilisateurs d'identifier les détails jusqu'à l'échelle du nanomètre. De plus, l'imagerie en temps réel permet aux utilisateurs d'analyser les données plus rapidement, ce qui en fait une fonction de gain de temps. En plus des capacités d'imagerie, SII NANOTECHNOLOGY FT110 est également équipé d'un logiciel d'analyse intégré. Ce logiciel permet aux utilisateurs d'analyser les images produites avec la machine. Le logiciel d'analyse comprend des fonctions telles que la mesure des dimensions des composants, le calcul des distances entre les structures et l'identification d'éventuels défauts ou défauts. FT110 est également très configurable et peut facilement être adapté aux besoins individuels. Il offre une gamme d'options pour les composants matériels et logiciels. Cela permet aux utilisateurs de personnaliser l'outil en fonction de leurs besoins et de leur budget. Dans l'ensemble, SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO FT110 est un atout radiologique avancé qui offre une précision exceptionnelle et une imagerie haute résolution. Avec son logiciel d'analyse intégré, il est idéal pour des applications telles que le test de composants et le contrôle de qualité.
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