Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-3200 #9244280 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-3200 est un appareil à rayons X haute pression conçu pour fournir une imagerie très précise des composants électroniques emballés sans causer de destruction ou de dommages. Le système est capable de produire des images 3D haute résolution qui permettent une visualisation rapide et précise de la structure interne et de la disposition des composants. L'unité est conçue pour l'inspection des composants électroniques anciens et nouveaux et est compatible avec une grande variété de procédés et de substrats. SEIKO SFT-3200 utilise la technologie des rayons X haute pression pour capturer des images avec une précision de niveau micron. La source de rayons X est une tranche d'anode céramique en molybdène, qui est ensuite propulsée vers l'objet cible à l'aide d'un pistolet à gaz. Cela garantit un temps d'exposition très court jusqu'à 5 millisecondes, tout en diminuant tout risque de distorsion due à la chaleur et aux perturbations. La distance d'imagerie de l'outil de la machine est réglable de 0 à 5 mm, permettant une imagerie haute résolution sans causer de dommages. SII NANOTECHNOLOGY SFT 3200 comprend un certain nombre de dispositifs de sécurité avancés pour protéger l'opérateur, y compris un verrouillage mécanique, un bouton d'arrêt d'urgence et un verrouillage de poignée. L'actif est équipé d'une alimentation électrique haute tension isolée, d'un détecteur EHT à haute sensibilité et d'un modèle de refroidissement isolé. L'équipement comprend également une commande de panneau tactile et une interface utilisateur graphique pour un fonctionnement rapide et facile, ainsi qu'une détection de focalisation automatique, un système d'auto-étalonnage et une unité de reconnaissance de bord. SEIKO SFT 3200 a une routine d'analyse de haute précision qui évalue l'image pour assurer une précision fiable. La machine peut analyser un certain nombre de caractéristiques de l'image telles que la taille de la matrice, la taille du paquet, les joints de soudure, la taille du fil, les propriétés du masque de soudure, et d'autres éléments pour l'analyse de précision. Le logiciel intégré de l'outil permet à l'utilisateur d'analyser, de revoir et de stocker les résultats de l'image pour une référence future, ainsi que de comparer les données avant et après l'analyse. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT 3200 peut être utilisé pour inspecter des objets d'une taille maximale de 10mm x 10mm, y compris des composants de précision, des connecteurs et des emballages. L'atout est idéal pour l'imagerie de haute précision des circuits et autres composants électroniques, ainsi que pour diverses applications de recherche, de développement, de validation et d'inspection. Ses capacités d'imagerie et de détection avancées en font un outil précieux pour la fabrication électronique et le diagnostic des composants.