Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-3200 #9256600 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-3200 est un appareil de radiographie puissant et polyvalent de SEIKO. Il est conçu pour fournir une large gamme de capacités d'imagerie de haute qualité pour la microanalyse des rayons X. Avec sa taille compacte, sa source de rayons X rapide et puissante et son design facile à utiliser, SEIKO SFT-3200 est parfait pour une grande variété d'applications. SII NANOTECHNOLOGY SFT 3200 dispose d'un ensemble de sources constitué d'une chambre de sources de rayons X 8.0mmx6.0mm et de deux cibles de rayons X axées sur la ligne. L'ensemble source est monté sur un étage de glissement d'axe Z qui lui permet de se déplacer selon les axes horizontal, vertical et de rotation. Il dispose également d'un amplificateur à faible bruit et de systèmes de refroidissement à fort gain d'oxyde d'indium et de Peltier pour améliorer les rapports signal à bruit. Le système d'imagerie SFT 3200 est conçu pour fournir des images de haute qualité avec un minimum de bruit. Il comprend un générateur de rayons X à tension variable, un étage de glissement à axe Z, deux volets motorisés et une unité de déflexion électrostatique qui peut être utilisée pour la focalisation et l'agrandissement précis. La machine d'imagerie dispose d'une caméra d'imagerie haute résolution avec un large champ de vision, une gamme dynamique élevée, et une variété de modes d'imagerie qui peuvent être ajustés pour répondre aux exigences spécifiques d'imagerie. SFT-3200 est équipé d'une vitesse d'obturation quasi instantanée à grande vitesse, ce qui permet d'obtenir des temps d'acquisition d'image beaucoup plus rapides pour la microanalyse des rayons X que les systèmes à rayons X classiques. Il est également livré avec un logiciel entièrement intégré qui permet d'ajuster et de surveiller une variété de paramètres d'imagerie et de fonctions d'analyse. Le logiciel fournit également une interface utilisateur intuitive et diverses options d'imagerie pour l'imagerie d'échantillons de différentes tailles et formes. SEIKO SFT 3200 dispose également d'un outil avancé de correction de l'aberration qui élimine les distorsions des faisceaux de rayons X et compense les changements dans la distance source-palette de rayons X. Cet atout possède également un autofocus intégré, qui permet à l'opérateur de maintenir une haute résolution et un contraste d'image. En conclusion, SII NANOTECHNOLOGY SFT-3200 de SII NANOTECHNOLOGY est un modèle de radiographie puissant et convivial qui fournit une imagerie de haute qualité pour la microanalyse des rayons X. Sa taille compacte, sa source de rayons X rapide et puissante et sa conception facile à utiliser la rendent idéale pour une variété d'applications, tandis que ses fonctions avancées de correction d'aberration, d'autofocus et d'imagerie permettent une analyse précise et détaillée des rayons X.