Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-9200 #9229362 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-9200 est un équipement de haute précision pour la diffraction des rayons X (XRD) et l'imagerie. Adapté à des applications tant en laboratoire qu'industrielles, ce produit est capable d'analyser une variété de matériaux et de composants. La source de rayons X SEIKO SFT-9200 est une anode en rotation métallique micro-foyer, capable d'émettre un rayonnement X allant jusqu'à 300kV et 200 mA. Le faisceau de rayons X couvre une large gamme d'angles, de 10 à 110 degrés. Ses détecteurs peuvent distinguer jusqu'à 200 keV de photons à rayons X, ce qui lui permet d'identifier une gamme d'éléments. L'ensemble de détecteurs se compose de deux détecteurs de dérive Si à l'état solide et d'un réseau de détecteurs de scintillation pour détecter les signaux de rayons X faibles. Le système d'analyse logicielle SII NANOTECHNOLOGY SFT-9200 est conçu pour détecter et imiter les schémas de diffraction des rayons X des schémas 2D à la cartographie 3D complète. Il peut détecter la structure moléculaire des matériaux et analyser différentes intensités et textures des pics de rayons X. Les mises à jour logicielles permettent de nouveaux paramètres XRD, tels que l'analyse de données à base de poudre ou cristallographique. Cette unité de radiographie a une conception compacte qui peut s'adapter à n'importe quel cadre de laboratoire. Il dispose également d'une variété de porte-échantillons et d'étapes qui peuvent être ajustées pour différents échantillons. SFT-9200 est également compatible avec une gamme d'accessoires tels que les caméras CCD et les régulateurs de température. L'analyse des données XRD de SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-9200 peut être poursuivie à l'aide de divers logiciels. Le logiciel SEIKO NANOCAD peut être utilisé pour visualiser et analyser le schéma de diffraction des poudres et détecter les phases cristallographiques. Il peut également être utilisé pour corriger des artefacts dans les données et calculer des paramètres tels que la taille des cristaux et la cristallinité. Pour sa reproductibilité robuste et son temps d'analyse rapide, SEIKO SFT-9200 est largement utilisé dans son large éventail d'applications. Ses caractéristiques d'analyse le rendent idéal pour des applications dans la science des matériaux, les semi-conducteurs, l'automobile et l'aérospatiale, entre autres. La machine offre à la fois des capacités d'analyse polyvalentes et une simplicité d'utilisation, ce qui en fait un outil de radiographie précieux pour n'importe quel laboratoire.