Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-9200 #9234922 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-9200
ID: 9234922
Style Vintage: 2007
X-Ray plating thickness measurement system 2007 vintage.
Les appareils à rayons X SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-9200 sont un système de nanotechnologie de pointe conçu pour l'imagerie de haute précision et l'analyse de petits objets. L'unité utilise une chambre à vide finement ajustée qui peut représenter des objets avec une résolution inférieure à 1 nanomètre. Cela permet aux chercheurs d'observer et d'analyser les caractéristiques nanométriques des composants microélectroniques ou des composés chimiques sans avoir à recourir à des techniques destructrices d'analyse ou de microscopie. La machine est capable de produire une variété de techniques d'imagerie des rayons X telles que la diffraction des rayons X (XRD), la fluorescence des rayons X (XRF), la spectroscopie photoélectronique des rayons X (XPS) et la spectroscopie d'absorption des rayons X (XAS). Dans l'imagerie XRD, les rayons X sont utilisés pour mesurer la structure cristalline des objets, tandis que XRF révèle la composition des éléments des objets. En utilisant XPS, les chercheurs peuvent examiner et identifier les états chimiques des différents éléments de l'échantillon, tels que leurs états d'oxydation. Enfin, XAS peut fournir des informations détaillées sur les propriétés électroniques et magnétiques des matériaux en mesurant la résistance de l'absorption des atomes dans l'échantillon. SEIKO SFT-9200 propose également des outils précis d'imagerie et d'analyse non destructive, tels que l'imagerie 3D d'échantillons dans un champ magnétique uniforme et à une plage de températures. Avec des capacités d'inclinaison et de rotation de haute précision, l'outil peut produire des images détaillées d'objets avec une résolution de 0,1 microns. De plus, l'actif peut être relié à des équipements tels que les microscopes optiques et à force atomique (AFM) et les microscopes thermiques à balayage (SMM) pour acquérir des données supplémentaires sur l'échantillon. SII NANOTECHNOLOGY SFT-9200 Le modèle des rayons X est utilisé dans diverses industries, notamment la science des matériaux, la fabrication de semi-conducteurs, la métallurgie et la biomédecine. En science des matériaux, par exemple, il peut être utilisé pour l'analyse approfondie des propriétés chimiques et physiques des alliages et matériaux avancés. Dans la fabrication de semi-conducteurs, il peut être utilisé pour tester la qualité des transistors et autres circuits intégrés. Il a également été utilisé en métallurgie pour tester les propriétés des métaux utilisés dans la fabrication de pièces de machines. Enfin, ses capacités d'imagerie non invasive et haute résolution le rendent adapté aux technologies d'imagerie médicale telles que la tomographie calculée (CT) et la microscopie. Dans l'ensemble, SFT-9200 appareils à rayons X est un outil de pointe de nanotechnologie qui est capable de produire des images et des analyses précises et précises. Sa gamme de techniques d'imagerie aux rayons X, ainsi que ses capacités d'imagerie non destructives supplémentaires, le rendent adapté à une variété d'applications dans des industries telles que la science des matériaux, la fabrication de semi-conducteurs, la métallurgie et la biomédecine.
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