Occasion TDK AFM 15 #9208727 à vendre en France

TDK AFM 15 est un microscope à force automatisé (AFM) développé par TDK Corporation pour scanner des microstructures de surface. Il est basé sur la technologie AFM la plus récente et dispose d'une gamme de caractéristiques qui en font un instrument parfait pour la recherche et la mesure de microstructures de surface. TDK AFM-15 est un dispositif de balayage à trois axes, composé d'un équipement optique, d'un étage mécanique et d'un ensemble sonde. Le système optique fournit la visualisation, permettant une imagerie haute résolution de résolution remarquable. L'étage mécanique permet un positionnement précis, tandis que l'ensemble sonde offre une large gamme de possibilités de balayage. Les sondes ont un diamètre de seulement 10 nanomètres, permettant un balayage détaillé des microstructures fines de surface. AFM 15 fournit un certain nombre de modes de balayage des surfaces. Il s'agit notamment du mode de prélèvement, du mode de contact, de la spectroscopie de force dynamique et du suivi des cantilever. Chaque mode est conçu pour mesurer différentes propriétés de la microstructure de surface. Par exemple, en mode taraudage, la pointe de la sonde est oscillée à une amplitude comprise entre 2 et 10 nanomètres, permettant le balayage d'excellentes images de surface en résolution nanométrique. L'utilisation de AFM-15 permet également diverses méthodes d'acquisition de données et de traitement d'image. À cette fin, plusieurs logiciels différents sont intégrés dans l'unité, tels que le logiciel AutoScan, le logiciel TLMAP, et le logiciel de M. Height. Ces paquets offrent un large éventail de caractéristiques, y compris divers modèles et mesures, ainsi que différents paramètres et fonctions pour calibrer la machine. TDK AFM 15 est donc un instrument polyvalent et convivial pour mesurer des propriétés micromécaniques de surface délicates. Avec ses sondes très sensibles, ses logiciels avancés et ses capacités d'imagerie, TDK AFM-15 est fiable et extrêmement précis. C'est le choix parfait pour les chercheurs intéressés à étudier les détails microscopiques de toute structure de surface.