Occasion ADVANTEST T 5335P #135567 à vendre en France
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ID: 135567
Style Vintage: 1997
Memory test systems
Configuration:
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 1
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD [Y,N]
CHILD A ....> YES
CHILD B ....> YES
CHILD C ....> YES
CHILD D ....> YES
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> YES
CHILD CD ...> YES
BYPASS CAPACITOR TO 10V/16V PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
BYPASS CAPACITOR TO HV PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
TEST HEAD TYPE
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 1
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD [Y,N]
CHILD A ....> YES
CHILD B ....> YES
CHILD C ....> YES
CHILD D ....> YES
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> YES
CHILD CD ...> YES
BYPASS CAPACITOR TO 10V/16V PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
BYPASS CAPACITOR TO HV PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> NO
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
16V PPS CONFIGURATION [17-32] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
16V PPS CONFIGURATION [17-32] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F BOARD
0.NONE
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] .........> 0
2'ND GPIB I/F BOARD
0.NONE
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1
DMM TYPE 1.TR6861
2.R6871E
3.R6551
4.R6552T [1-4] .........> 4
AC FREQUENCY (HERTZ) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0-4] .........> 4
SIZE OF FM MODULE
1. 1M
2. 4M
3. 8M [1-3] .........> 1
NUMBER OF MEMORY BANK [1-2] .........> 1
NUMBER OF MEMORY BLOCK [1-4] .........> 4
PATTERN MEMORY [Y,N] .........> NO
FM BOARD KIND 1. BGR-020816
2. BGR-020816X02 [1-2] ..............> 2
CONFIGURATION OF MRA
MRA2/3 OPTION [Y,N] ...........................> YES
MRA OPTION TYPE [2,3] (2=MRA2,3=MRA3) ...........> 2
TYPE OF CBU BOARD [1,2] (1: BGR-019267 )
(2: BGR-019267X02) ....> 1
NUMBER OF CBU BOARD [1,2,3,4] .......................> 2
TYPE OF FBM BOARD [1,2,3,4] (1= 4M*36BIT)
(2= 4M*72BIT)
(3= 8M*72BIT)
(4=16M*72BIT) .........> 3
NUMBER OF FBM BOARD [1-4] ...........................> 4
COMPRESSION FUNCTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
SC BOARD KIND 1. BGR-020774
2. BGR-020774X02 [1-2] ..............> 1
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1997 vintage.
Le TEST FINAL T 5335P est un équipement conçu pour les ingénieurs et les professionnels de divers domaines, tels que l'électronique, l'automobile et la robotique. Ce système fournit des solutions haut de gamme pour effectuer des tests liés à la vérification et au débogage au niveau de l'unité. ADVANTEST T5335P offre une gamme complète de capacité programmant l'épreuve et des épreuves complètes ; scénarios précis de test machine, vérification, débogage, analyse et optimisation des dispositifs multi-cœur outil sur puce (SoC). Il comprend une plate-forme programmable de traitement numérique du signal (DSP) qui peut aider à configurer la conversion analogique-numérique et numérique-analogique du signal pour créer des solutions de test personnalisées. De plus, les appareils électroniques peuvent être alimentés via des alimentations programmables (PPS) tout en obtenant des données de conception détaillées à l'aide d'oscilloscopes. Des outils de test avancés, tels que Fast Fourier Transform (FFT) et Vector Signal Analyzers peuvent aider à configurer et optimiser le traitement du signal, ainsi que des solutions de simulation et d'émulation. T 5335 P peut également être utilisé pour le test paramétrique des semi-conducteurs (SIP) pour l'estimation et la validation des paramètres. De plus, cet atout de test permet une corrélation signal et temps pour des applications telles que les tests audio et vidéo. Les tests peuvent être effectués en mode veille et en mode actif. Enfin, T 5335P offre des réductions de temps de débogage pour les séries de production et des capacités de débogage avancées avec des points de rupture en temps réel et des captures de traces. Il est également équipé de fonctions de gestion des données pour garantir des tests précis et efficaces du matériel et des logiciels. Cela inclut les options de stockage de données massives (BDS) avec la possibilité de stocker une grande variété de données de test, y compris les formulaires d'onde et les chronogrammes. Dans l'ensemble, c'est un modèle d'essai avancé avec une gamme polyvalente de solutions Final Test.
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