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T 5335P
Memory tester, 12" System configuration generate Configuration of test head Number of test head
144

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T 5335P
Memory tester Includes Advantest digital multimeter R6551 Power supplies: Nemic-Lambda CKS-36-21A N
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T 5335P
Memory test systems Configuration: CONFIGURATION OF TEST HEAD NUMBER OF TEST HEAD [1,2] .......
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T 5335P
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T 5335P
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T 5335P
Tester Type: TTL + GPIB Pins: 144 I/O HD Capacity: 36G HV Option 1-16 PMU (TH1-TH2) 1-32 PPS (TH1-T
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T 5335P
Tester Type: TTL + GPIB Pins: 144 I/O HD Capacity: 36G HV Option 1-16 PMU (TH1-TH2) 1-32 PPS (TH1-T
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T 5335P
Tester Type: TTL + GPIB Pins: 144 I/O HD Capacity: 36G HV Option 1-16 PMU (TH1-TH2) 1-32 PPS (TH1-T
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T 5335P
Tester Type: TTL + GPIB Pins: 144 I/O HD Capacity: 36G HV Option 1-16 PMU (TH1-TH2) 1-32 PPS (TH1-T
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T 5335P
Tester Type: TTL + GPIB Pins: 144 I/O HD Capacity: 2G HV Option 1-16 PMU (TH1-TH2) 1-32 PPS (TH1-TH
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T 5335P
Tester Type: TTL + GPIB Pins: 144 I/O HD Capacity: 4G 1-16 PMU (TH1-TH2) 1-32 PPS (TH1-TH2) FAM and
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T 5335P
Memory tester (4) BGR-019486 DC Boards (4) BGR-016796 PPS (16) BGL-020768 PE Cards (2) BGR-020816X02
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Memory tester (4) BGR-019486 DC Boards (4) BGR-016796 PPS (16) BGL-020768 PE Cards (2) BGR-020816X02
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Memory tester (4) BGR-019486 DC Boards (4) BGR-016796 PPS (16) BGL-020768 PE Cards (2) BGR-020816X02
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T 5335P
Memory tester Temperature range: 150°C Tester processor: TP4 OS Rev: ASX/U-50: 6.04-1 SunOS Release
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T 5335P
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