Occasion ADVANTEST T 5335P #9178728 à vendre en France
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ID: 9178728
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 1996
Memory tester, 12"
System configuration generate
Configuration of test head
Number of test head [1,2] ...........................>[2]
Configuration of test head 1
Test head type
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> [1]
Pin configuration Slot no. [33,97,41,105]
Child A ....> [33,41,97,105˙]
Child B ....> [33,41,97,105˙]
Child C ....> [33,41,97,105˙]
Child D ....> [33,41,97,105˙]
Pin configuration Option1 PIN CARD [Y,N]
Child A ....> [Yes]
Child B ....> [Yes]
Child C ....> [Yes]
Child D ....> [Yes]
Pin configuration Option2 Pin card [Y,N]
Child AB ...> [Yes]
Child CD ...> [Yes]
Bypass capacitor to 10V/16V PPS (PCON)
1. Non existent
2. Existent [1,2] ..............> [1]
Bypass capacitor to HV PPS (PCON)
1. Non existent
2. Existent [1,2] ..............> [1]
Configuration of test head 2
Test head type
1.650CH
2.1300CH [1,2] [1]
Pin configuration Slot no. [33,97,41,105]
Child A: [33,41,97,105]
Child B: [33,41,97,105]
Child C: [33,41,97,105]
Child D: [33,41,97,105]
Pin configuration Option1 pin card [Y,N]
Child A [Yes]
Child B [Yes]
Child C [Yes]
Child D [Yes]
Pin configuration Option2 pin card [Y,N]
Child AB [Yes]
Child CD [Yes]
Bypass capacitor to 10V/16V PPS (PCON)
1. Non-existent
2. Existent [1,2] [1]
Bypass capacitor to HV PPS (PCON)
1. Non-existent
2. Existent [1,2] [1]
Configuration of DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] [Yes]
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] [Yes]
Test head 1
DC Configuration [1-16] [1-16]
10V PPS Configuration [1-32] [1-32]
16V PPS Configuration [17-32] [˙]
HV PPS Configuration [1-4] [1-4]
Test head 2
DC Configuration [1-16] [1-16]
10V PPS Configuration [1-32] [1-32]
16V PPS Configuration [17-32] [˙]
HV PPS Configuration [1-4] [1-4]
1'ST GPIB I/F Board 0.No
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] [0]
2'ND GPIB I/F Board 0.No
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] [1]
DMM Type
1. TR6861
2. R6871E
3. R6551
4. R6552T [1-4] [3]
AC Frequency (Hertz) [50,60] [60]
Configuration of FM
Number of FM board [0-4] [2]
Size of FM module
1. 1M
2. 4M
3. 8M [1-3] [1]
Number of memory bank [1-2] [2]
Number of memory bank [1-4] [4]
Pattern memory [Y,N] [No]
FM Board kind
1. BGR-020816
2. BGR-020816X02 [1-2] [2]
Configuration of MRA
MRA2/3 Option [Y,N] [Yes]
MRA Option type [2,3] (2=MRA2,3=MRA3) [2]
Type of CBU Board [1,2]
(1: BGR-019267)
(2: BGR-019267X02) ....> [1]
Number of CBU Board [1,2] [2]
Type of FBM Board [1,2,3,4] (1= 2M*72BIT)
(2= 4M*72BIT)
(3= 8M*72BIT)
(4=16M*72BIT) .........> [1]
Number of FBM Board [1-4] [4]
Compression function [Y,N] [No]
Configuration of FCDC
Flash option [Y,N] [No]
SC Board kind
1. BGR-020774
2. BGR-020774X02 [1-2] [1]
End save
1996 vintage.
Le Test Final T 5335P est un équipement complet conçu pour évaluer rapidement les performances des circuits intégrés (IC) à haute densité et complexes d'aujourd'hui. Le système se compose d'une plate-forme d'instruments comprenant un testeur IC, des manipulateurs et diverses têtes de test. Le testeur est équipé d'une large gamme de programmes de test universels et programmables par l'utilisateur, permettant aux utilisateurs de tester facilement et en toute confiance une variété d'IC. Le contrôleur d'ADVANTEST T5335P est capable de l'acquisition de données à grande vitesse et peut analyser exactement des données en mettant des épreuves. Sa conception sans entretien et longue durée de vie permet d'assurer des performances fiables, même dans des conditions environnementales élevées et difficiles. Son interface graphique conviviale permet un fonctionnement et une programmation faciles et comprend diverses fonctionnalités pour permettre l'exécution sûre des tests. T 5335 P IC testeur est très précis et peut détecter même le plus petit des défauts dans les IC. Ses caractéristiques de test haute densité lui permettent de manipuler des IC avec jusqu'à 1608 broches. Sa fonction de génération automatique de tests construit rapidement des tests pour différents IC, économisant du temps et de l'argent. En outre, l'unité de test est livrée avec une machine de contrôle de sécurité intégrée pour protéger les IC contre les dommages lors des essais. T5335P outil est conçu pour tester une variété d'IC, y compris les IC analogiques, les IC logiques numériques, les IC MCM, les microcontrôleurs, les processeurs et les IC spécifiques aux applications. En outre, l'actif comprend plusieurs têtes de test qui sont conçues pour capturer l'information électrique et analyser les signaux électriques à chaque broche des IC. Le modèle offre également un diagnostic de défaut en temps réel et permet aux utilisateurs d'identifier rapidement tout problème lors des tests. En outre, l'équipement de la série T 5335 P de la série de caractéristiques supplémentaires pour augmenter l'efficacité et la précision des tests IC. Cela inclut la simulation de défauts et les tests paramétriques analogiques, ainsi que les fonctions d'analyse de données telles que le tri, la comparaison, l'impression et l'affichage. Enfin, le système est soutenu par un service à la clientèle fiable, faisant de T 5335P un choix idéal pour tester des IC à haute densité et complexes.
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