Occasion ADVANTEST T 5335P #9311752 à vendre en France
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ID: 9311752
Style Vintage: 1996
Memory tester
Temperature range: 150°C
Tester processor: TP4
OS Rev:
ASX/U-50: 6.04-1
SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02
DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G
TH1: 650
No OP1 Pin card
No OP2 Pin card
TH2: 650
No OP1 Pin card
No OP2 Pin card
DPU: TH1
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
TH2:
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
FM: 144 M
(2) FM Boards
Size of FM module: 1 M
Memory bank
(4) Memory blocks
No patten memory
BGR-020816 FM Board
MRA:
MRA Option: MRA2
Type of CBU board: BGR-019267
(2) CBU Boards
Type of FBM board: 2 M, 72 Bit
(4) FBM Boards
No compression function
FCDC:
Flash option
BGR-020774 SC Board
1996 vintage.
L "équipement de test T 5335P est un équipement de test final destiné à la caractérisation et au débogage des dispositifs au niveau du circuit intégré (IC). Il a la capacité de configurer, mesurer et analyser le circuit électrique sur des puces allant de simple à complexe, ce qui en fait une solution idéale pour les tests automatisés et l'optimisation des appareils. ADVANTEST T5335P présente une plate-forme flexible qui fournit la configuration différente et les options d'essai, telles que l'épingle à grande vitesse le chronométrage multiplexant, à haute résolution, la programmation de dessin de scanner d'essai et l'intégration de système. Il est également capable d'effectuer des tests en circuit, ce qui en fait un outil puissant pour déboguer et analyser les IC embarqués. L'unité dispose d'une large gamme de fonctionnalités, y compris des mesures de courant de précision, des vitesses de réadmission à grande vitesse et un contrôleur logique programmable universel (UPC) pour la programmation des séquences de test. Il a l'instrumentation numérique à grande vitesse, capable du fait d'être de qualité de 500 millions d'échantillons par seconde et ses formats de CommandFile et d'InterfaceBoard sont deux modes distincts d'intégration d'essai. T 5335 P possède également une évolutivité, susceptible d'être étendue d'un seul à plusieurs canaux, permettant des tests simultanés multi-clients qui augmentent le débit de test. Sa machine embarquée DARS (Data Acquisition and Reporting Machine) permet une gestion flexible des tests, avec la capacité d'optimiser l'efficacité des tests. En outre, T5335P est conçu pour un entretien facile, permettant aux utilisateurs de réparer, d'entretenir et d'améliorer rapidement leur outil. Le T 5335 P est un outil de test final puissant et polyvalent, parfait pour la caractérisation, l'optimisation et le débogage des appareils. Sa plate-forme flexible et évolutive offre un large éventail de fonctionnalités et d'options, offrant aux utilisateurs la possibilité de tester plusieurs IC dans une configuration unique. Avec ses capacités de test à haute vitesse et sa conception intuitive, T 5335P est une solution idéale pour le test automatisé et l'optimisation des appareils au niveau du circuit intégré.
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