Occasion ADVANTEST T 5335P #9311754 à vendre en France
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ID: 9311754
Style Vintage: 1996
Memory tester
Temperature range: 150°C
Tester processor: TP4
OS Rev:
ASX/U-50: 6.04-1
SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02
DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G
TH1: 650
No OP1 Pin card
No OP2 Pin card
TH2: 650
No OP1 Pin card
No OP2 Pin card
DPU: TH1
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
TH2:
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
FM: 144 M
(2) FM Boards
Size of FM module: 1 M
Memory bank
(4) Memory blocks
No patten memory
BGR-020816 FM Board
MRA:
MRA Option: MRA2
Type of CBU board: BGR-019267
(2) CBU Boards
Type of FBM board: 8 M, 72 Bit
(4) FBM Boards
No compression function
FCDC:
Flash option
BGR-020774 SC Board
1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P est un Équipement D'essai Final est une solution multifonctionnelle flexible pour une large gamme d'appareils de haute intégrité dans l'industrie de semi-conducteur. Il offre une flexibilité de plusieurs paramètres de mesure et une précision de test élevée pour les essais d'appareils dans des conditions complexes. ADVANTEST T5335P est un système d'essai basé sur la cinquième génération ADVANTEST l'ordinateur central de R500, avec E/S à grande vitesse et plus haut débit que les modèles précédents. La suite logicielle intégrée de MULTIMÉDIEST offre une gamme complète de capacités de test et d'options de maintenance avec un fonctionnement intuitif axé sur le menu et en plusieurs langues. T 5335 P offre des solutions de tests numériques complètes pour une grande variété d'applications. Il s'agit d'une unité modulaire, permettant aux utilisateurs de personnaliser leurs exigences de test à l'aide d'une variété de cartes et de fixations rechargeables. Les canaux logiques embarqués et les instruments de test externes tels que les oscilloscopes, les alimentations et les compteurs/minuteries sont pris en charge. La sensation de Force 3D incluse s'intègre dans les systèmes d'essai existants, en fournissant l'essai de contrôle de la force automatisé et l'intégration de machine d'essai de ProBER™ étend plus loin des épreuves aux limites d'exigences de processus de client. T 5335P est conçu pour le développement de produits et l'analyse des défaillances de dispositifs semi-conducteurs très complexes. Il répond aux besoins de fonctionnement à grande vitesse avec jusqu'à 4GHz et offre une large gamme de formes d'onde, de structures d'impulsions et de fonctions de mesure. L'outil est configuré avec des capacités d'auto-réglage complètes, permettant aux utilisateurs d'optimiser rapidement la configuration de test pour chaque appareil testé. L'accent est mis sur la reproductibilité maximale et la précision des tests de production avec des algorithmes de test sophistiqués. En outre, l'actif intègre des caractéristiques telles que le cyclage thermique accéléré, fournissant un criblage amélioré pour les dispositifs très sensibles à la température. La version T 5335 P est également livrée avec un programme dédié à la correction automatique du décalage de mesure, permettant une précision améliorée et un contrôle de sensibilité raffiné. Cela réduit le besoin d'étalonnage manuel répété, et améliore la cohérence des mesures pour tous les instruments intégrés. De plus, un puissant modèle intégré de vision de machine facilite l'inspection et la localisation des pannes, ce qui augmente l'efficacité globale du processus. T5335P est un équipement d'essai final fiable et efficace qui permet un test de production simplifié de dispositifs semi-conducteurs complexes. C'est un outil puissant et polyvalent qui garantit des performances et une précision élevées dans une grande variété d'applications de test. Avec une prise en charge intégrée des algorithmes de test avancés et des capacités de vision de la machine, le système offre une solution complète de test de bout en bout avec des résultats reproductibles tout au long du processus de production.
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