Occasion TERADYNE J750 #9167072 à vendre en France

TERADYNE J750 Final Test Equipment est une plate-forme d'essai et d'inspection de nouvelle génération conçue pour offrir une couverture d'essai supérieure et améliorer le rendement des dispositifs à semi-conducteurs complexes. C'est un testeur évolutif à haut débit avec une petite empreinte qui est idéal pour tester les petits paquets de facteurs de forme d'aujourd'hui. Le TERADYNE J 750 est idéal pour tester un large éventail d'applications et offre une solution prévisible et à faible risque pour tester le faible nombre de broches grâce à des dispositifs à semi-conducteurs à forte broche. Le système utilise une architecture optimisée pour obtenir une précision de test plus élevée, des coûts de test moindres et une couverture de test accrue, entraînant une augmentation du rendement du dispositif. J750 dispose d'un chipset de processeur de signal numérique à haut débit (DSP) pour le traitement rapide des modèles de test pour les dispositifs de comptage de broches élevées. L'unité utilise une machine de séquençage et de contrôle de test en temps réel qui est conçue pour supporter des algorithmes de test avancés et des diagnostics robustes, permettant aux utilisateurs de tirer parti des dernières innovations de test. L'outil avancé de contrôle et de mesure en boucle fermée assure des résultats d'essai rapides et précis. J 750 offre la flexibilité d'intégrer facilement des solutions de test personnalisées dans l'architecture de test, permettant aux utilisateurs d'augmenter encore leur couverture de test. Une interface graphique intuitive et facile à utiliser simplifie les processus de débogage et de dépannage, aidant les utilisateurs à augmenter leur productivité. En outre, une vaste bibliothèque de pilotes de périphériques personnalisés est disponible pour l'actif, permettant une intégration rapide et transparente des périphériques dans le modèle de test. TERADYNE J750 Final Test Equipment est une solution de test et d'inspection puissante, fiable et économique. Son architecture et ses capacités de pointe en font le système idéal pour tester les dispositifs semi-conducteurs très complexes d'aujourd'hui, permettant aux utilisateurs de maximiser le rendement des appareils avec un risque minimal.