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TERADYNE
J750
Testers P/N: 48-989470 512 Channels Test head (2) DPS (8) HSD100 CUP 16M LVM XW 6000 Workstation Man
975
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J750
Tester 512 Channels (8) HSD 100 (4) DPS CUB Vector memory: 64M XW8400 Workstation 2004 vintage.
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Tester Memory: 16 meg (8) HSD100 (2) DPS 512 Pins 100 MHz (16) MLVM CTO MTO Workstation: XW8400 Plas
383
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Testers Test head CUB Test head cart Manuals included Power conditioner.
345
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Tester Test head frame: 512 64 Pin / Channel card (8) Cards 512 Channels LVM 16 M Date rate: 100 MHz
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J750
Tester HSD100: 256 Channels (100) HSD FREQ LIC HP XW8200 (16) HSD LVM LIC (2) DPS 256 Digital pins T
327
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Testers 512 Pins (8) Channel cards (HSD 100, 16Mb LVM) (3) DPS CTO Workstation: XW 8400 Power condit
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J750
Tester 512 Channels LVM 16M (HSD100) XW8400 Workstation Manipulator dock to YAC handler (4) DPS CTO
336
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Testers 512 Channels LVM 16M (HSD100) XW8400 Workstation Manipulator dock to YAC handler (4) DPS CTO
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J750
Testers Small test head 512 Channels LVM 16M (3) DPS MTO XW8400 Workstation 2001-2004 vintage.
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J750
Tester Includes: HPXW8200 Workstation Power conditioner: 190 / 200 / 210 V MT2-J750-D300 Manipulato
378
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J750
Tester Test head frame: 512 Standard test head Pin count: 512 Channels LVM 16 M Frequency: 100 MHz D
437
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J750
Tester Cabled for 512 channels, P/N: 918-338-20 (3) Digital channel boards, P/N: 239-026-03 Digital
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J750
Tester Slot[.subslot] Type idprom -1 Sli 239-624-00 0 Channel 239-026-03 1 Channel 239
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J750
Testers Docked with ACCRETECH / TSK UF 200 Series 512 Channels Clock: 100MHz EPA: +/-325ps LVM: 16M
231
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J750
Tester Main body Test head: 512 Channels Manipulator CUB Board Power conditioner No HSD100 Board No
326
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