Occasion TERADYNE J750 #9179290 à vendre en France

TERADYNE J750 est un équipement d'essai final de nouvelle génération pour les processus de production et de combustion qui garantit des résultats de haute qualité pour les appareils électroniques complexes. Doté de quatre modules de test, TERADYNE J 750 peut automatiser des fonctions simples ou complexes pour réduire les erreurs et améliorer la qualité des produits. L'architecture de test intégrée de J750 lui permet de mesurer et d'évaluer simultanément un large éventail de fonctions de test. Le système peut mesurer jusqu'à 4800 électrodes par module et est conçu pour fonctionner avec un large éventail de types d'appareils et d'applications. Les quatre modules de test intègrent des tests de mémoire et de logique à grande vitesse, des tests à l'unité et des tests complets de broches, filets, liaisons et broches. La configuration à quatre modules permet un déploiement facile dans les lignes de production et la machine peut être personnalisée pour des applications spécialisées. J 750 dispose d'un gestionnaire de circuit intégré (IC) qui permet d'automatiser l'acquisition, l'évaluation et le transport des données de test. Le module IC Handler Management fournit des outils puissants pour contrôler le processus de test, y compris l'accès aux journaux IC Handler, la gestion des files d'attente IC Handler, la planification et la gestion IC Handler. La gestion d'IC Handler permet également de réduire le temps de test et peut être intégrée avec d'autres modules de test TERADYNE pour fournir une solution de test complète. TERADYNE J750 offre des capacités de débogage améliorées avec sa fonction de débogage programmable Logic Design (PLD). Les fonctions de débogage PLD offrent un environnement graphique qui peut afficher jusqu'à 16 périphériques. L'environnement graphique permet aux utilisateurs de dépanner les défauts de conception PLD rapidement et facilement. Il est également en mesure de mesurer et de signaler systématiquement les paramètres des périphériques pour plusieurs périphériques pour d'autres fins de débogage. TERADYNE J 750 offre également une couverture de test avancée, ce qui contribue à réduire les temps de test et à améliorer le contrôle de qualité. J750 est en mesure d'effectuer plus de 650 000 tests simultanés par outil, fournissant une couverture de test détaillée pour une large gamme d'appareils électroniques. Avec ses cartes à sonde haute vitesse, J 750 maximise la précision et le débit de test. TERADYNE J750 est une solution de test haute performance de nouvelle génération qui fournit des tests efficaces et fiables et une qualité de produit améliorée. Doté de quatre modules de test et de la gestion du gestionnaire de circuits intégrés, TERADYNE J 750 offre un haut degré de flexibilité, assurant une couverture et une précision de test maximales, tout en réduisant les coûts et en améliorant le contrôle de la qualité.