Occasion TERADYNE J750 #9315889 à vendre en France

TERADYNE J750 est un équipement de test final conçu pour fournir des solutions de test rentables et évolutives pour des conceptions de haute complexité et des applications de périphériques/connectivité. Le système offre une combinaison optimisée de technologie de test analogique, numérique, MEMS, RF et optique, ainsi que des tests en circuit de grande capacité, pour fournir la couverture ultime pour toutes les applications de test. TERADYNE J 750 Final Test unit est supporté par une vaste gamme de logiciels d'application et d'outils de conception, permettant à la machine d'interagir avec l'environnement de test existant des clients et l'équipement de test existant. Au cœur de l'outil se trouve un contrôleur haute vitesse, délivrant jusqu'à 32 Giga par seconde (Gsps), tout en manipulant jusqu'à 1.024 broches et 16 canaux d'entrée/sortie non pin, ce qui donne un atout avec des performances supérieures et des frais généraux bas. J750 dispose également d'algorithmes de génération automatique de motifs de test (ATPG) pour les canaux de test analogique, numérique, MEMS et RF, permettant une couverture de test maximale. Les modèles de test dynamiques mais efficaces permettent également un environnement de test de faible puissance, faisant du J 750 un choix idéal pour les applications qui ont faim de puissance. La connectivité embarquée Smart Memory et Ethernet offre un autre avantage par rapport aux solutions concurrentes, permettant aux clients d'intégrer leurs programmes de test existants avec une bibliothèque logicielle facile à gérer. En outre, TERADYNE J750 dispose d'un générateur de formes d'onde intégré capable de générer jusqu'à 20 types différents de formes d'onde dans les domaines analogique et numérique, permettant un débogage et des tests de production plus rapides et plus complets. TERADYNE J 750 dispose également de l'analyse avancée de couverture de défaut (FCA) avec cartographie automatisée des défauts et détection de la diaphonie/distorsion, aidant à l'analyse des défaillances complexes de conception. La capacité du FIST (Fault Isolation Stress Test) augmente également la fiabilité des résultats des tests en réduisant les failles fausses, les échecs et les défauts induits par la recherche. De plus, J750 tire parti de l'architecture de test brevetée « Loop-Through », qui permet de tester rapidement et efficacement les appareils multi-canaux. En conclusion, J 750 R750 est un modèle d'essai final complet, économique et fiable conçu pour les applications IoT/connectivité et les conceptions complexes d'appareils. Les caractéristiques comprennent ATPG automatisé, mémoire intelligente, une variété de générateurs de formes d'onde, capacités FCA, FIST, test en boucle et logiciel de test avancé, permettant le développement de tests intégrés et l'intégration en douceur avec les environnements de test existants.