Occasion ASM IBE 139 #293637822 à vendre en France

ASM IBE 139 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour être utilisé pour détecter les défauts et les particules sur les plaquettes semi-conductrices. Il a été développé par Automated Semiconductor Makers (ASM), un fournisseur leader de systèmes d'essai et d'inspection de semi-conducteurs. Le système est basé sur une technique d'imagerie par microscopie optique (OMiB) qui combine l'imagerie haute résolution avec l'élimination automatisée des particules. Il dispose d'une boîte à outils intégrée de plus de 50 outils automatisés qui permettent aux fabricants et aux concepteurs d'analyser rapidement et précisément les défauts des appareils. L'unité utilise trois composants principaux. Le premier composant est le microscope, une machine optique qui produit des enregistrements rapprochés de plaquettes. Il peut fonctionner dans divers agrandissements et résolutions pour fournir une vue détaillée de la microstructure de la plaquette. Il comprend également des logiciels avancés de traitement d'images pour l'analyse automatisée d'images, la détection de défauts et de particules, et pour générer des rapports. Le deuxième composant est le nettoyage ultasonique. Il est utilisé pour éliminer les particules d'une plaquette en utilisant des ondes ultrasonores. Les ondes sont générées par un guide d'onde puis dirigées vers un endroit précis de la plaquette. Le guide d'onde nettoie la surface de la plaquette et peut également détecter des particules ou des fissures, qui peuvent être utilisées pour le contrôle de qualité. Le troisième composant est le filtre infrarouge. Il est utilisé pour éliminer les particules de la plaquette en éliminant l'ultraviolet et la lumière visible dans le spectre. Il inspecte une plaquette avec un rayonnement infrarouge, lui permettant de produire une image améliorée des particules et des défauts. En utilisant ces composants, l'outil ASM IBE139 peut être utilisé pour détecter les particules, les défauts et la contamination sur les plaquettes semi-conductrices. Il permet également de détecter la variabilité de la topographie des plaquettes, les écarts dans les spécifications des filtres et de surveiller la qualité de la surface des plaquettes. L'actif peut être utilisé pour maximiser le rendement, réduire les coûts et améliorer la qualité des appareils produits.