Occasion ASM IBE 139 #293637824 à vendre en France

ASM IBE 139 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour les fabricants de semi-conducteurs à haut volume. Le système est basé sur un algorithme de mise en page de la carte des plaquettes qui lui permet de cartographier et d'inspecter avec précision de nombreux éléments simultanément, tels que les images de tomographie à décharge électrostatique (ESD), les images d'inspection des défauts de photomasques, la cartographie des emplacements au niveau de la matrice, entre autres. L'unité intègre plusieurs nouvelles caractéristiques le rendant adapté à diverses applications telles que la production à haut volume, l'analyse des défauts et la localisation des défauts. La machine ASM IBE139 se compose de deux composants principaux. Le premier composant est le module d'interface, qui comprend une caméra d'imagerie, un séparateur de faisceau, des microscopes, un processeur et une unité de traitement d'image. Ce module est relié au DSP de prétraitement d'image pour la détection d'imagerie haute résolution et de défaut sur la plaquette. Le deuxième composant est l'Imaging & Pattern Generation Module, qui utilise un logiciel propriétaire personnalisé qui contrôle l'imagerie et la détection des défauts sur la plaquette semi-conductrice. Le logiciel utilise un algorithme de reconnaissance de motifs pour classer rapidement les défauts entre les étapes de surveillance et identifier les anomalies éventuelles. Le logiciel peut également être utilisé pour effectuer des analyses avancées sur les images et pour construire des rapports statistiques détaillés. L'outil IBE 139 prend en charge l'imagerie haute résolution et peut représenter jusqu'à 2000 points par plaquette. Il utilise des sources lumineuses infrarouges et bleues, détectant les défauts des images pixilisées. L'actif est également équipé de microscopes haute résolution, permettant à la fois l'imagerie 2D et 3D et la détection des défauts. De plus, le modèle de vision stéréo est capable de détecter et de traiter les défauts en trois dimensions. En plus de l'imagerie, l'équipement offre diverses autres fonctionnalités. Il peut identifier, mesurer et caractériser les décharges électrostatiques, l'inspection des défauts des photomasques, la cartographie des endroits au niveau de la mort, ainsi que les points chauds, les brûlures et autres événements de défaillance. Le système peut également être utilisé pour le codage, le traçage, le masquage et la reconstitution des données d'une plaquette. Il supporte l'analyse SIMS, qui peut être utilisée pour la caractérisation détaillée des défauts de la plaquette. En outre, il peut reproduire des images en temps réel, permettant ainsi une inspection visuelle en ligne pour une précision maximale. L'unité comprend également une bibliothèque d'images standard pour la comparaison et dispose d'un algorithme d'apprentissage rapide pour permettre la reconnaissance rapide des motifs. Enfin, la machine dispose d'une interface utilisateur hautement personnalisable qui permet aux utilisateurs de configurer ses paramètres au besoin. Il est avantageux pour les grands volumes, en guidant les utilisateurs à fixer le seuil et d'autres paramètres d'inspection pour permettre la classification rapide des données. Dans l'ensemble, IBE139 outil fournit une solution complète d'inspection de masque et de plaquettes. Il offre des capacités d'imagerie haute résolution et des capacités avancées de reconnaissance de motifs pour inspecter et identifier les défauts rapidement et précisément. En outre, il dispose d'une interface utilisateur personnalisable, permettant aux utilisateurs d'ajuster les paramètres de l'actif en fonction de leurs besoins individuels.